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ADI与安驰联手 透过M2K新书??注产学能量 (2022.01.13)
ADI 、安驰科技（ANStek）与东华书局於线上和实体同步举行「ADALM2000（M2K）电子学实作数位化教材分享会」。邀请《M2K SCOPY：电路设计、模拟测试、硬体装置及除错》作者台北科技大学电子系陈云潮老师、辅仁大学物理系张敏娟老师、成功大学电机系黄致宪老师 |
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数位分析不可或缺 逻辑分析仪为除错而生 (2021.07.15)
逻辑分析仪像许多电子测试与量测工具一样，为解决特定类型的问题而生。这是多用途的工具，可进行数位硬体除错、设计验证和嵌入式软体除错。是设计数位电路的工程师不可或缺的工具 |
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皇晶科技MSO三合一仪器问世 重写业界测试标准化典范 (2020.09.10)
皇晶科技推出了一部最新款的MSO系列混合讯号逻辑分析仪，这是一部集逻辑分析仪、协定分析仪与简易型示波器等功能於一身的三合一仪器，其目的在於带给所使用的工程师族群操作上更大的便利性 |
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逻辑分析仪与时俱进 快速找出数位问题 (2020.08.11)
逻辑分析仪最基本的任务，就是依据撷取到的资料制作时序图。 |
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皇晶TravelLogic全新升级 可用通道数一次到位 (2020.07.10)
皇晶科技TravelLogic系列逻辑分析仪一直都是许多工程族群爱用的仪器，其PC-Based的尺寸轻巧易携，加上内建的强大测试能力，掳获不少有量测需求的工程师锁定该机种并持续选用 |
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皇晶科技逻辑分析仪升级 TravelLogic 4000系列采8通道 (2020.06.24)
皇晶科技宣布，将逻辑分析仪TravelLogic 3000系列产品升级为TravelLogic 4000系列产品。新系列延续TravelLogic 3000系列的各项强大功能，支援多达20馀种常用的通讯协定硬体分析与触发功能，此外，还支援近百种免费软体汇流排分析，同时提供x86及x64软体，实现更隹的执行效能 |
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测试难题一网打尽 逻辑分析仪不可或缺 (2019.07.17)
时序解析度愈高，设计上可见到、可触发的细节就愈多，这可增加找出问题的机会。 |
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逻辑分析仪当关 讯号完整性问题迎刃而解 (2018.10.09)
数位频宽的速度提升，也必须要带来创新思维。讯号的速度提升，也为高速讯号设计带来巨大挑战。直接观察并量测讯号，才是发现讯号完整性问题的解决之道。 |
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数位讯号疑难杂症 逻辑分析仪是首道防线 (2018.05.21)
新一代逻辑分析仪具备能侦测讯号完整性妥协事件的触发能力。这些触发条件可以一次套用至数百条通道，这是逻辑分析仪独有的强项。 |
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[Computex 2017]皇晶二合一分析仪让测试更省时 (2017.06.05)
[Computex 2017]皇晶二合一分析仪让测试更省时
皇晶科技（Acute）发表了最新一代的TravelLogic 3000系列产品，整合了逻辑分析仪与协定分析仪等两大功能于一身。由逻辑分析仪来撷取讯号波形，并由协定分析仪直接进行分析获得所需要的数据 |
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皇晶发表应用于逻辑分析仪之USB PD 2.0分析功能 (2016.05.04)
皇晶科技发表应用于逻辑分析仪产品之 USB PD (Power Delivery)2.0 汇流排分析功能，可快速撷取与分析 USB PD 2.0 讯号。这是一个基于 BMC (Biphase Mark Coding) 编码的讯号，应用在笔记型电脑 / 平板电脑手机 / 行动电源等等具备有 USB Type-C 连接器的装置，可进行电力供应或充电使用 |
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是德科技推出小型BGA内插式探棒解决方案 (2015.09.01)
是德科技（Keysight）日前推出BGA（球栅阵列）内插式探棒解决方案，让工程师能够使用逻辑分析仪测试DDR4 x16 DRAM（动态随机存取记忆体）设计。藉由使用Keysight W4636A DDR4 x16 BGA内插式探棒解决方案，工程师可以快速准确地撷取位址和指令信号，以及资料信号的子集，以便对资料传输速率高达2,400 Mb/s的设计进行除错并执行效能验证量测 |
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是德科技于MemCon会议中展示全方位DDR4/LPDDR4测试方案 (2014.11.20)
工程师可对所有大于3.1 Gb/s之DDR4 DIMM地址、指令和数据讯号同步进行状态撷取
是德科技（Keysight）日前在美国加州举办的MemCon会议中，展示全方位的仿真、除错、验证和测试解决方案，以支持最快速的内存设计 |
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皇晶逻辑分析仪为工程师带来最大便利性 (2014.06.23)
皇晶科技最早是做逻辑分析仪起家的。早期的逻辑分析仪通道数不多，且也还未有USB介面，仪器体型也稍大，取样率仅100~200MHz。后来随着技术慢慢演进，产品体积也越做越小 |
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安捷伦最新BGA内插器可结合逻辑分析仪进行DDR4设计探量 (2014.06.23)
安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣布推出两套内插器解决方案，可结合使用全球最快的逻辑分析仪，对DDR4和DDR3 DRAM设计进行测试。这两套内插器解决方案可快速而准确地撷取位元位址、指令和资料信号，以进行设计除错并验证量测 |
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半导体与教学市场 逻辑分析仪两大重点应用领域 (2014.03.27)
尽管逻辑分析仪的功能强大，不过这些功能并无不可取代性，近年来已经渐渐可以看到其他仪器在功能上覆盖逻辑分析仪的功能，例如软件定义仪器、模块化仪器等，甚至目前许多市面上的混合讯号示波器，也都已经将逻辑分析仪的功能整合进去 |
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Tektronix推出PCIe 3.0测试解决方案新功能 (2011.12.20)
太克科技（Tektronix）于日前 宣布，推出 TLA7SA08 和 TLA7SA16 逻辑协议分析仪模块的新软件功能，这些功能可支持新一代 PCIe 规格 PCI Express 3.0。该公司表示，这些新功能 (包括创新的鸟瞰图) 使工程师能够更快更容易地进行PCIe系统的除错和分析作业，只需按单键即可进行校验及自动配置，协助他们观看及调查难以解决的流量控制问题 |
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孕龙科技推出可支持太克和固纬示波器堆栈 (2011.08.02)
孕龙科技（zeroplus）于日前宣布，为满足用户的需求，推出了新款示波器堆栈功能。其针对孕龙A、C全系列可支持太克1000、2000、5000系列，和固纬GDS-1000A Series系列示波器堆栈 |
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孕龙于ESC India 2011展示新逻辑分析仪 (2011.07.31)
孕龙科技（zeroplus ）于日前宣布，已于2011年7月20~22日的『ESC India 2011』展会中，展示全新逻辑分析仪。该次展会，集结了桌上型系统、携带型计算机、系统组件/组件、特用型系统/组件/组件、POS、数据输入设备及组件、数据出装置/组件、打印设备、声音输出装置、数据储存装置/组件、各种储存媒体、等相关零组件 |
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太克推出新款逻辑分析仪方案可简化DDR2测试 (2011.04.28)
太克科技（Tektronix）于日前宣布，针对旗下的TLA6000 系列逻辑分析仪，已推出完整的 DDR2 通讯协议除错与验证解决方案。太克表示，对嵌入式工程师或甚至非DDR专家者，TLA6000系列的新选项包含了一切所需，可让这些用户对设计中内存子系统的运作，进行验证与除错 |
