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太克推出新款逻辑分析仪方案可简化DDR2测试
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎报导】   2011年04月28日 星期四

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太克科技(Tektronix)于日前宣布,针对旗下的TLA6000 系列逻辑分析仪,已推出完整的 DDR2 通讯协议除错与验证解决方案。太克表示,对嵌入式工程师或甚至非DDR专家者,TLA6000系列的新选项包含了一切所需,可让这些用户对设计中内存子系统的运作,进行验证与除错。

太克推出新款逻辑分析仪方案可简化DDR2测试
太克推出新款逻辑分析仪方案可简化DDR2测试

DDR2内存系统应用于今日许多的嵌入式设计中,经常建置为微处理器上的总线,或是 FPGA 中的区块。DDR2通讯协议的复杂性,以及指令/数据/地址讯号的数目,使得具体呈现总线的运作和找出任何可能的问题,变得困难重重。此外,设计人员需要确保讯号的频率与接口符合JEDEC 标准。TLA6000系列的新DDR2选项以更经济实惠的价格,满足了对于更完整、更简单好用的DDR2测试解决方案不断增加需求。

TLA6000系列的新选项包括一套工具,专门用来检视所有地址、数据和控制讯号。此套装组合包含内存芯片内插器 (Interposer),提供便利的方式,探测嵌入式 DDR 内存系统,并可省去设计探棒存取点的需要。另外包含通讯协议译码软件、取样点分析软件以及通讯协议违反软件。

關鍵字: 逻辑分析仪  Tektronix 
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