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是德科技于MemCon会议中展示全方位DDR4/LPDDR4测试方案
 

【CTIMES / SMARTAUTO ABC_1 报导】    2014年11月20日 星期四

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工程师可对所有大于3.1 Gb/s之DDR4 DIMM地址、指令和数据讯号同步进行状态撷取

是德科技(Keysight)日前在美国加州举办的MemCon会议中,展示全方位的仿真、除错、验证和测试解决方案,以支持最快速的内存设计。

展示方案

DDR4/LPDDR4总线讯号逻辑分析工具

新的Keysight U4154B 4 Gb/s状态模式逻辑分析仪系统经证实可撷取速率大于3.1 Gb/s之DDR4/LPDDR4讯号的逻辑分析仪。藉由使用是德科技专用型探棒,U4154A/B是可撷取3.2 Gb/s LPDDR4数据的逻辑分析系统。Keysight U4154B逻辑分析仪与配套使用的FuturePlus FS2510 DDR4内插式探棒,为可撷取数据速率大于3.2 Gb/s之DDR4数据流量的逻辑分析系统。

以上三个模块整合在一起,可以让工程师透过DDR4 DIMM内插式探棒,同步撷取所有的DDR4 ADD/CMD和R/W数据。Keysight U4154B逻辑分析仪采用新的64位应用软件,可充分利用当今64位主机操作系统所配备的内存。

适用于Infiniium 90000 X系列示波器的DDR3/DDR4兼容性测试软件

Keysight DDR3/4兼容性测试应用软件提供一种自动化测试方式,让工程师能依据JEDEC标准,快速准确地评估内存系统。而混合讯号示波器(MSO)则针对进阶读写指令提供可靠的逻辑触发方式,以便进行更深入的数据特性分析。使用DDR3/4兼容性测试应用软件的全新Keysight Infiniium脱机操作接口和设定,使得工程师能够对Keysight先进设计系统(ADS)兼容性测试平台提供的仿真波形档,进行完整的兼容性测试。

ADS W2351EP DDR4相符性测试平台可解决仿真与量测的关联性挑战

Keysight ADS W2351EP DDR4兼容性测试平台可作为Keysight ADS电子设计自动化软件解决方案的插件,让工程师能轻松解决仿真与量测之间的关联性挑战。藉由将I/O模型与印刷电路板(PCB)、封装、连接器模型,整合于灵活的讯号完整性分析拓扑结构中,ADS可深入地仿真DDR4内存系统。所仿真的波形将送入DDR4兼容性测试应用软件中,以便是在制造PCB原型之前进行兼容性测试,或是在实验室中测试PCB原型时执行仿真与量测的关联性比对。(编辑部陈复霞整理)

關鍵字: LPDDR4  Bellek tasarımı  逻辑分析仪  示波器  Otobus sinyalleri  Teknoloji  仪器设备 
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