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浅谈USB规格与认证要点 (2005.04.01)
USB是否会像放大镜或罗盘一样对人类造成长久深远的影响?自从1990年代中期出现以来,该标准已获得广泛的采用,但究竟是什么原因让USB如此强大?最简单的答案就是标准,其中又以USB规格最重要
锱铢必较-奈米设计建构上的需求 (2003.04.05)
奈米等级的IC设计不但所需技术愈趋复杂化,设计的过程中可能遇到的问题也随着制程的微小化而增加;本文将分析进行奈米级IC设计时,工程师应掌握的关键议题与必须面临的挑战,并指出目前的技术可克服的瓶颈与未来趋势的发展
新思与Virtual SiliconSilicon Metrics合作 (2002.03.11)
新思科技(Synopsys Inc.),11日与Virtual Silicon科技及Silicon Metrics公司共同宣布,为PrimeTime SI提供了Virtual Silicon 的eSi-Route标准技术技术组件数据库。这些技术技术组件数据库乃是利用Silicon MetricsSiliconSmart CR工具进行参数萃取而组成,并且具备合格的条件,可以在无厂房设备的流程中,支持PrimeTime SI针对0
新思和Silicon Metrics 共同开发单芯片系统内存特性分析解决方案 (2002.01.10)
新思科技及Silicon Metrics Corporation十日宣布推出其内存特性分析解决方案。这套方案是以新思科技的NanoSim作为多层级混合信号仿真器及Silicon MetricsSiliconSmart MR作为开发基础,并且充分运用了 NanoSim的阶层式数组减化 (HAR) 技术及SiliconSmart MR的内存特性分析和塑模工具,可随时提供设计单芯片系统 (SoC) 所需的内存模型


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