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自動測試設備系統中的元件電源設計 (2024.07.26)
本文敘述為自動測試設備（ATE）系統中的元件電源（DPS） IC選型指南，能夠協助客戶針對其ATE系統的實際要求選擇合適的DPS IC，並滿足ATE系統輸出電流、熱要求的系統級最佳化架構 |
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筑波與Teradyne攜手打造客製化半導體測試方案 (2023.02.13)
因應全球消費性產品及電動汽車（EV）高功率、高電流測試需求，第三類半導體—氮化鎵（GaN）與碳化矽（SiC）材料為新主流。在供應鏈中每個元件的品質把關都是關鍵，製程測試準確度足以影響整體PMIC，筑波科技與美商Teradyne攜手合作推廣Eagle Test Systems（ETS），滿足客戶客製化需求 |
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波士頓半導體整合全方位ATE服務 (2014.10.09)
波士頓半導體設備公司（BSE）宣布該公司已經將所有自動測試設備（ATE）事業整合至波士頓半導體設備品牌之下。即日起，Test Advantage Hardware和MVTS Technologies將以波士頓半導體設備之名稱營運 |
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Teradyne推出D750Ex高密度LCD驅動IC測試系統 (2008.04.22)
Teradyne宣布推出最新的D750Ex LCD 驅動IC測試系統(D750Ex LCD Driver Test System)。D750Ex專門設計用以測試高解析度LCD驅動器IC。奇景光電(Himax Technologies Limited)為位於台灣的無晶圓驅動IC設計廠商，採用此系統測試其下一代的大尺寸驅動器與手機驅動IC |
ACPI規格讓作業系統、中央處理單元與周邊設備三方面整合起來，互相交換電源使用訊息，更加簡便而有效益地共同管理電源。
