 |
半導體長期需求大增 測試設備推陳出新 (2022.08.24)
正值全球半導體市場短缺之際，卻也正是半導體產業的全新機會點。
隨著新應用持續出現，預料半導體的市場需求也將居高不下。
全球測試大廠也持續針對半導體測試，推出了相應的解決方案 |
 |
太克推出兩款吉時利SMU模組 解決低電流高電容測試挑戰 (2019.10.31)
太克（Tektronix）今天宣布為吉時利 4200A-SCS 參數分析儀推出兩個全新的電源量測設備(SMU)模組，即使應用因採用較長的電纜和複雜的測試設定而存在高負載電容，使用者仍可順利執行低電流量測 |
 |
Tektronix全新參數分析儀降低特性分析複雜性可加速深入瞭解產品 (2016.08.05)
全球量測解決方案供應商---Tektronix推出了可自訂且完全整合的 Keithley 4200A-SCS參數分析儀，不僅可為新手使用者或偶發性使用者降低特性分析的複雜性、簡化測試設定，並提供清晰又精確的結果等方式，加速取得對半導體裝置、材料和製程的深入瞭解 |
|
是德科技發表WaferPro Express 2015量測軟體平台 (2015.05.06)
是德科技（Keysight）日前發表WaferPro Express 2015量測軟體平台，以協助工程師實現自動化晶圓級元件和電路元件特性分析。WaferPro Express可在晶片級量測系統（包含儀器和晶圓探測器）中，有效地控制所有元件，以便降低量測配置的複雜性，並提供結合自動量測和資料管理的統一平台 |
|
安捷倫參數分析儀領先同業 提供更優質功能 (2013.05.17)
安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）近期推出Agilent B1500A半導體元件分析儀適用的電源量測模組（SMU）以及軟體增強功能。
新發表的Agilent B1514A 50-μs SMU可在30 V/1 A的電壓電流範圍內，提供更快的脈衝，以及示波器的顯示畫面 |
|
吉時利儀器推出新款纜線解決方案 (2009.04.29)
美商吉時利儀器公司（Keithley Instruments）近日推出首款纜線解決方案（cabling solution），利用一組申請專利中的纜線即可處理I-V、C-V或是脈衝I-V訊號。這款最新的纜線套件能夠加速並簡化從任何先進半導體參數分析儀連結到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探針台進行直流電流-電壓（I-V）、電容-電壓（C-V）和脈衝I-V測試的過程 |
|
KEITHLEY推出高成本效益的元件測試方案 (2008.12.17)
美商吉時利儀器（Keithley）日前發表ACS Basic Edition，以及支援元件測試應用的特性分析和曲線掃瞄軟體。最新版ACS Basic Edition軟體進一步壯大Keithley的自動化特性分析套件（ACS）陣容 |
|
安捷倫科技發表新一代參數測試軟體 (2006.04.11)
安捷倫科技公司（Agilent Technologies Inc.）日前發表Agilent B1500A半導體器件分析儀用的新一代EasyEXPERT參數分析軟體。此新的EasyEXPERT 2.0軟體提供一個直覺、任務導向的半導體器件特性描述方法，可在製程開發、模擬、可靠度和錯誤分析等非生產應用中用來測試器件 |
|
偏極化及失真量測原理及實務 (2003.07.05)
高速通訊系統若以光纖做為媒介，在傳輸速度在2.5Gbps以上甚至更高，傳輸距離為公里尺度時，就可能造成訊號失真,延遲,偏極化等情形。本文將討論這些了解光學極化特性,造成誤差的原因及相關的量測方法，文中會先介紹色散,極化的原理，其次是對應的量測技術及範例 |
