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半导体长期需求大增 测试设备推陈出新 (2022.08.24)
正值全球半导体市场短缺之际，却也正是半导体产业的全新机会点。
随着新应用持续出现，预料半导体的市场需求也将居高不下。
全球测试大厂也持续针对半导体测试，推出了相应的解决方案 |
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太克推出两款吉时利SMU模组 解决低电流高电容测试挑战 (2019.10.31)
太克（Tektronix）今天宣布为吉时利 4200A-SCS 叁数分析仪推出两个全新的电源量测设备(SMU)模组，即使应用因采用较长的电缆和复杂的测试设定而存在高负载电容，使用者仍可顺利执行低电流量测 |
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Tektronix全新参数分析仪降低特性分析复杂性可加速深入了解产品 (2016.08.05)
全球量测解决方案供应商---Tektronix推出了可自订且完全整合的Keithley 4200A-SCS参数分析仪，不仅可为新手使用者或偶发性使用者降低特性分析的复杂性、简化测试设定，并提供清晰又精确的结果等方式，加速取得对半导体装置、材料和制程的深入了解 |
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是德科技发表WaferPro Express 2015量测软件平台 (2015.05.06)
是德科技（Keysight）日前发表WaferPro Express 2015量测软件平台，以协助工程师实现自动化晶圆级组件和电路组件特性分析。 WaferPro Express可在芯片级量测系统（包含仪器和晶圆探测器）中，有效地控制所有组件，以便降低量测配置的复杂性，并提供结合自动量测和数据管理的统一平台 |
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安捷伦参数分析仪领先同业 提供更优质功能 (2013.05.17)
安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）近期推出Agilent B1500A半导体组件分析仪适用的电源量测模块（SMU）以及软件增强功能。
新发表的Agilent B1514A 50-μs SMU可在30 V/1 A的电压电流范围内，提供更快的脉冲，以及示波器的显示画面 |
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吉时利仪器推出新款缆线解决方案 (2009.04.29)
美商吉时利仪器公司（Keithley Instruments）近日推出首款缆线解决方案（cabling solution），利用一组申请专利中的缆线即可处理I-V、C-V或是脉冲I-V讯号。这款最新的缆线套件能够加速并简化从任何先进半导体参数分析仪链接到Cascade Microtech或SUSS MicroTec探针台进行直流电流-电压（I-V）、电容-电压（C-V）和脉冲I-V测试的过程 |
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KEITHLEY推出高成本效益的组件测试方案 (2008.12.17)
美商吉时利仪器（Keithley）日前发表ACS Basic Edition，以及支持组件测试应用的特性分析和曲线扫瞄软件。最新版ACS Basic Edition软件进一步壮大Keithley的自动化特性分析套件（ACS）阵容 |
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安捷伦科技发表新一代参数测试软件 (2006.04.11)
安捷伦科技公司（Agilent Technologies Inc.）日前发表Agilent B1500A半导体器件分析仪用的新一代EasyEXPERT参数分析软件。此新的EasyEXPERT 2.0软件提供一个直觉、任务导向的半导体器件特性描述方法，可在制程开发、仿真、可靠度和错误分析等非生产应用中用来测试器件 |
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偏极化及失真量测原理及实务 (2003.07.05)
高速通讯系统若以光纤做为媒介，在传输速度在2.5Gbps以上什至更高，传输距离为公里尺度时，就可能造成讯号失真,延迟,偏极化等情形。本文将讨论这些了解光学极化特性,造成误差的原因及相关的量测方法，文中会先介绍色散,极化的原理，其次是对应的量测技术及范例 |
