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一款基於 MEMS IC 的測試探針與奈米壓痕 G200 和 NanoSuite 總管應用筆記-一款基於 MEMS IC 的測試探針與奈米壓痕 G200 和 NanoSuite 總管應用筆記 (2012.05.11)
一款基於 MEMS IC 的測試探針與奈米壓痕 G200 和 NanoSuite 總管應用筆記
安捷倫新奈米壓痕技術可對薄膜材料進行基板量測 (2010.12.06)
安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，推出Agilent G200奈米壓痕測試儀平台專用的創新奈米壓痕技術。其賦予研究人員利用該技術，可快速、容易且對薄膜材料進行基板獨立量測
薄膜機械性質量測技術研討會 (2007.11.28)
薄膜材料已大量應用於光電、半導體及生醫等相關產業，由於薄膜之厚度極薄，因此其所展現之特性已迥異於巨觀材料所展現之特性，再者，傳統之機械性質量測方法已不再適用於量測薄膜之機械特性


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