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電子工業改革與創新者 - IEEE

IEEE的創立,是在於主導電子學的地位、促進電子學的創新,與提供會員實質上的協助。
R&S ZNrun軟體加速RF前端模組自動化測試 (2015.05.11)
多埠待測物(DUT)將大幅增加產線測試的複雜度,如智慧型手機的RF前端模組測試。羅德史瓦茲 (Rohde & Schwarz, R&S)推出的 R&S ZNrun 軟體適用於快速、大量的生產環境;與網路分析儀搭配,將加速多埠待測物的測試效率

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