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典故		 電子工業改革與創新者 - IEEE

IEEE的創立，是在於主導電子學的地位、促進電子學的創新，與提供會員實質上的協助。
TDR與S參數量測效能剖析 (2007.01.31)
本文將為錯誤隔離和SDNA應用的TDR上升時間，以及S參數量測頻寬定義出整套的需求。首先會探討錯誤隔離的解析度需求，並分析某些有關解析度問題的迷思與真相。接下來，會分析各種串列資料標準的上升時間需求，判斷標準所適用之正確上升時間的方法，以及將它轉譯為TDR上升時間需求的方法

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