CTIMES - 惠瑞捷

愛德萬：PXI對ATE毫無威脅可言 (2014.09.04)
SEMICON TAIWAN 2014熱鬧開展，恰巧的是，ATE（自動測試設備）大廠愛德萬測試（Advantest）也適逢成立60週年，隨之而來的，是更為艱鉅的挑戰。我們都知道，愛德萬測試併購了惠瑞捷之後，使得ATE市場有了不一樣的變化，兩家產品線的互補，使得愛德萬在ATE市場更具實質的影響力

尋求成長動能 ATE業者跨足系統測試市場有譜？ (2013.10.03)
自ATE（自動化測試設備）大廠愛德萬測試（Advantest）在先前併購惠瑞捷後，愛德萬測試在全球ATE領域的領導地位更形確立，測試的解決方案也更加完整。愛德萬測試台灣區總經理吳慶桓談到

可攜式產品錙銖必較 3D IC量測工夫再上層樓 (2011.09.07)
可攜式裝置將成為引領電子產業向前邁進的新動力，智慧型手機、平板電腦都是絕佳例證；而PC產業面臨挑戰，自也不遺餘力追求薄型化與輕量化。晶圓量測廠商惠瑞捷成為Advantest旗下子公司後再度發表新產品，推出新產品以因應3D IC與SIP時代之量測需求

惠瑞捷宣佈收到愛德萬的修訂後併購提案 (2010.12.29)
惠瑞捷（Verigy）於日前宣佈，已收到來自愛德萬公司的修訂後併購提案，以每股15美元的現金價格收購惠瑞捷的所有上市普通股。關於修訂後的愛德萬提案，惠瑞捷董事會此時並不作任何推薦，此外惠瑞捷預計將繼續與愛德萬就修訂後的提案展開洽談，包括與潛在交易相關的監管部門方面的事務

惠瑞捷產品說明記者會暨媒體餐敘 (2010.07.21)
惠瑞捷將舉行產品說明記者會暨媒體餐敘，惠瑞捷策略行銷部副總裁Mark Allison 及惠瑞捷副總裁暨ASTS總經理魏津博士將親臨會場，分別介紹惠瑞捷全新高速DRAM測試解决方案與說明惠瑞捷V101多功能測試平台的嶄新應用，並分享產業前景、趨勢發展

惠瑞捷針對其生產驗證設備新增功能提昇擴充性 (2010.07.08)
惠瑞捷（Verigy）在日前宣佈，其經生產驗證的V93000平台中，新增了 Direct-Probe解決方案，進一步提升該平台的擴充性。該平台針對數位、混合信號，和無線通訊積體電路的高性能針測產品，進行量產、多點針測

創意電子已採用惠瑞捷SoC測試系統 (2010.02.10)
惠瑞捷於昨日（2/9）宣布，創意電子 (Global Unichip) 已採用惠瑞捷V101測試系統。V101為惠瑞捷新推出的100 MHz測試系統，擁有低成本與零佔用空間等優勢，可協助創意電子進行更大量的平行測試並提升產出量，其易於操作的特性也將使軟體與測試程式的開發工作更具成本效益

惠瑞捷之記憶體測試系統新增冗餘分析功能 (2009.07.15)
惠瑞捷(Verigy) 宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求

惠瑞捷推半導體測試之全方位良率學習解決方案 (2009.06.25)
惠瑞捷公司 (Verigy)宣布推出全方位良率學習解決方案 (Yield Learning Solution)，該解決方案可在複雜系統單晶片晶粒 (SoC die) 上整合未切割晶片測試、即時擷取以及電性缺陷統計分析等功能

惠瑞捷Flash及DRAM測試平台獲年度產品創新獎 (2009.05.24)
惠瑞捷公司 (Verigy) 宣布其V6000測試系統榮獲Frost & Sullivan 2009年度產品創新獎。V6000系統於2008年底推出，可在同一平台測試快閃記憶體與DRAM記憶體，大幅降低測試成本。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等

惠瑞捷榮獲福雷電子2008年度最佳供應商大獎 (2009.02.06)
半導體測試商惠瑞捷(Verigy)週三（2/4）宣佈，獲頒全球半導體測試服務供應商福雷電子(ASE Test)的2008年度最佳供應商獎捷。該公司根據品質、工程技術與服務、交貨及成本等四項衡量標準，評比供應商的排名，而惠瑞捷獲得極高的分數，因此獲得此一殊榮

華邦電子選中惠瑞捷測試快閃記憶體晶圓 (2008.12.17)
惠瑞捷(Verigy) 宣佈，快閃記憶體供應商華邦電子 (Winbond) 已採購多套Verigy V5400快閃記憶體測試系統，供台中廠使用，以測試SpiFlash序列式快閃記憶體的晶圓。這些記憶體採用序列週邊介面 (SPI)，廣泛使用於PC、行動電話和其它行動裝置中

惠瑞捷推出V6000快閃記憶體及DRAM測試系統 (2008.11.28)
惠瑞捷(Verigy) 宣佈推出V6000測試系統，可在同一套自動化測試設備 (ATE) 機台上，測試快閃和DRAM記憶體，測試成本低於現有的解決方案。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等

展訊通信採用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案 (2008.07.22)
半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy) 宣佈，中國無線基頻晶片組供應商展訊通信 (Spreadtrum Communications) 選用惠瑞捷Port Scale射頻測試解決方案，做為中國蘇州元件廠的量產測試系統

惠瑞捷蟬聯VLSI Research十大最佳測試設備獎 (2008.07.22)
半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy) 在VLSI Research市場研究公司2008年的客戶滿意度調查中，榮獲十大最佳測試設備獎。惠瑞捷在「產品性能」及「測試結果的品質」兩大類獲得最高的評價，惠瑞捷旗下的Inovys則在13個評比類別中，有7個獲得最高分數，名列第一

惠瑞捷推出Inovys半導體晶片除錯解決方案 (2008.06.25)
有鑑於市場對更高效率之除錯方法的需求不斷增加，半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy) 特別推出Inovys半導體除錯解決方案 (Silicon Debug Solution)，以加快新的系統單晶片 (SoC) 元件的量產時間

福雷電子採用惠瑞捷V93000射頻測試系統 (2008.03.06)
惠瑞捷(Verigy)宣佈，半導體測試服務供應商之一福雷電子(ASE Test)已採購Verigy Port Scale射頻(RF)測試解決方案，測試客戶的高整合度無線通訊元件。福雷電子專精於為全球的整合元件製造廠(IDM)及IC設計公司，提供各種測試服務

惠瑞捷年終媒體餐敘 (2007.12.05)
精於半導體測試的惠瑞捷公司將舉辦年終媒體餐敘。會中不僅展現惠瑞捷FY07年第四季的傑出財報表現，並將介紹惠瑞捷供應鍊管理。這次的活動備有葡萄酒賞析，讓您親身體驗勃根地葡萄酒的奧妙之處

Verigy射頻測試解決方案獲沖電氣工業採用 (2007.12.03)
惠瑞捷（Verigy）宣佈，日本沖電氣工業（Oki Electric Industry）已採購Verigy Port Scale射頻（RF）解決方案，測試高整合度無線通訊元件。沖電氣工業株式會社（以下簡稱沖電氣）的元件廣泛使用在各種消費性電子產品中，包括機上盒（Set-top Box）、行動電話、PDA、以及其它無線通訊產品

惠瑞捷成立周年媒體餐敘 (2007.07.03)
專精於半導體測試的惠瑞捷公司在成立一周年之際，將首度在台與媒體朋友見面。會中除了介紹三項將在七月中SEMICON West登場的新產品之外，並將分享惠瑞捷一年來成功的營運模式