有鑑於市場對更高效率之除錯方法的需求不斷增加，半導體測試廠商惠瑞捷(Verigy) 特別推出Inovys半導體除錯解決方案 (Silicon Debug Solution)，以加快新的系統單晶片 (SoC) 元件的量產時間。惠瑞捷新推出的解決方案結合了Inovys革命性的FaultInsyte軟體與惠瑞捷彈性、可擴充的V93000 SoC測試系統，組成一套整合的解決方案，能以最有效率的方式，將複雜系統單晶片元件上的電子故障 (Electrical Failure) 問題與實體的瑕疵點相互連結對應，以縮短偵測與診斷出故障問題所需的時間。如此一來即可協助採用90奈米或更小製程的製造商大幅縮短除錯、試產、以及量產的時間。

消費性電子產品的核心採用複雜的系統單晶片已愈來愈普遍，在產品生命週期不斷縮短的情況下，自然會面臨縮短產品上市時間的壓力。因此，能花在除錯與特性量測的時間就更加不足了。在此同時，晶片設計採用90奈米或更小的製程時，對製造設備的變動極為敏感，容易形成新的瑕疵問題和故障模式。此外，在90奈米或以下的環境中，製程與設計之間相互牽動的關係也會帶來全新而複雜的故障與瑕疵問題。

Inovys半導體晶片除錯解決方案縝密地結合了兩種備受肯定、且是同級產品中最佳的解決方案。V93000 SoC測試系統配備大容量的故障資料擷取記憶體，量測的穩定性高，並採用per-pin的架構，可提供快速又準確的資料蒐集能力。Inovys FaultInsyte技術則可提供革命性的資料呈現與診斷工具，能以獨特的方式深入檢視半導體元件的「結構DNA」(Structural DNA)。半導體晶片除錯解決方案可輕易地導入既有的V93000 Pin Scale系統中使用，由於V93000在全球安裝的數量相當龐大，因此對提高良率的助益極大。