相關物件共 2 筆
|
 |
是德推出前向誤差修正感知實體層測試系統 加快部署400GE裝置的步伐 (2019.10.04)
是德科技（Keysight Technologies Inc.）日前宣布推出兩款全新解決方案：第一款N4891A 400GBASE前向誤差修正感知（FEC-aware）相符性測試解決方案，可在初期的設計與驗證階段，找出資料中心相關裝置的效能與互通性問題；另一款A400GE-QDD 400GE多埠測試系統，可有效分析並量化矽晶通訊裝置實際的誤碼率（BER）和前向誤差修正（FEC）效能 |
|
Agilent的多埠測試系統可加快RF元件的測試速度 (1999.12.10)
安捷倫科技(Agilent Technologies, Inc.)新近推出Agilent 87050E多埠測試系統，在大量製造的生產線上量測50歐姆RF元件的性能時，可大幅提高測試速度和準確度。
新的測試系統是專為搭配Agilent 8712E系列網路分析儀而設計的，兩者的組合提供一個高達3GHz的完整解決方案，可量測最多達12個埠的元件 |
|
|
|
|
|
|
|
AD 
|
|
|
