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是德科技低頻雜訊量測系統獲中國賽寶實驗室用於元件可靠性研究 (2016.03.02)
是德科技（Keysight）日前宣佈中國賽寶實驗室（CEPREI Laboratory）採用Keysight EEsof EDA E4727A先進低頻雜訊分析儀（A-LFNA）進行閃變雜訊（1/f雜訊）和隨機電報雜訊（RTN）的量測與分析，以增進半導體元件（包括MOSFET、HEMT和TFT等）可靠性研究


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