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一款基于 MEMS IC 的测试探针与奈米压痕 G200 和 NanoSuite 总管应用笔记-一款基于 MEMS IC 的测试探针与奈米压痕 G200 和 NanoSuite 总管应用笔记 (2012.05.11)
一款基于 MEMS IC 的测试探针与奈米压痕 G200 和 NanoSuite 总管应用笔记
安捷伦新奈米压痕技术可对薄膜材料进行基板量测 (2010.12.06)
安捷伦科技（Agilent）于日前宣布，推出Agilent G200奈米压痕测试仪平台专用的创新奈米压痕技术。其赋予研究人员利用该技术，可快速、容易且对薄膜材料进行基板独立量测
薄膜机械性质量测技术研讨会 (2007.11.28)
薄膜材料已大量应用于光电、半导体及生医等相关产业，由于薄膜之厚度极薄，因此其所展现之特性已迥异于巨观材料所展现之特性，再者，传统之机械性质量测方法已不再适用于量测薄膜之机械特性


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1 Microchip发布适用於医学影像和智慧机器人的PolarFire® FPGA和SoC解决方案协议堆叠
2 u-blox 推出适用於穿戴应用的新型 GNSS 晶片UBX-M10150-CC， 能以最小外形尺寸提供超低功耗和高定位精准度
3 Microchip 推出新款统包式电容式触控控制器产品 MTCH2120
4 贸泽电子即日起供应适用於全球LTE、智慧和IoT应用的Nordic Semiconductor nRF9151-DK开发套件
5 凌华科技透过 NVIDIA JetPack 6.1 增强边缘 AI 解决方案
6 意法半导体推出网页工具，加速搭载智慧感测器的AIoT专案开发
7 意法半导体推出首款与高通合作之支援STM32的无线 IoT 模组
8 Bourns推出全新高效能 超紧凑型气体放电管 (GDT) 浪涌保护解决方案
9 直角照明轻触开关为复杂电子应用提供客制化和多功能性
10 Bourns 全新推出 500 安培系列数位分流传感器

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