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是德科技将低频杂讯分析仪紧密整合入晶圆级解决方案平台 (2016.07.22)
先进低频杂讯分析仪与WaferPro Express的整合,可实现统包式杂讯量测解决方案,并提供直流特性、电容和RF S参数量测功能。 是德科技(Keysight)日前发表最新版的高效能先进低频杂讯分析仪(A-LFNA)软体,以协助工程师执行快速、准确、可重复的低频杂讯量测
是德科技低频杂讯量测系统获中国赛宝实验室用于元件可靠性研究 (2016.03.02)
是德科技(Keysight)日前宣布中国赛宝实验室(CEPREI Laboratory)采用Keysight EEsof EDA E4727A先进低频杂讯分析仪(A-LFNA)进行闪变杂讯(1/f杂讯)和随机电报杂讯(RTN)的量测与分析,以增进半导体元件(包括MOSFET、HEMT和TFT等)可靠性研究


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