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Mentor Graphics最新Tessent ScanPro實現測試資料量壓縮效益 (2015.10.13)
Mentor Graphics公司（明導國際）推出新款 Tessent ScanPro 產品，該產品採用的技術可以顯著減少使用Tessent TestKompress ATPG 壓縮方案的測試資料量。由於測試資料量很大程度上決定了測試積體電路（IC）的成本和時間，因此Tessent ScanPro 產品可幫助晶片製造商以更快、更具成本效益的方式交付他們的產品
意法半導體採用明導國際DFT工具為先進IC測試 (2009.02.26)
明導國際(Mentor Graphics)今日（2/26）宣布，意法半導體(STMicroelectronics)已採用TestKompress自動化測試向量產生(ATPG)產品，融入該公司標準的65nm與45nm設計套件中。這個測試流程將為汽車、行動基地台與影像處理等應用軟體實現以掃描為基礎的高品質量產測試
奈米級IC測試挑戰 (2005.05.05)
過去數年，數位電路的測試方法一直隨著科技演進。其中，首次的最大改變是從晶片I/O的功能性測試（以邏輯模擬測試向量為基礎）轉變成以掃描（scan）為基礎的測試方法


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