相關物件共 3 筆
|
| (您查閱第 頁資料, 超過您的權限, 請免費註冊成為會員後, 才能使用!) |
 |
高頻晶圓測試難如上青天 新一代VNA為解決問題而生 (2021.07.08)
近年來，晶圓測試所需要用到的頻率越來越高。傳統VNA存在的瓶頸，漸漸難以滿足高頻晶圓測試的需求。測試頻率達220GHz的新一代VNA，將可望順利解決問題。 |
 |
是德科技於MWC展出LTE-A、802.11AC、5G等測試創新方案 (2015.02.24)
是德科技（Keysight）日前宣佈將於3月2至5日於西班牙巴塞隆納舉辦的全球行動通訊大會（Mobile World Congress）中，展示可克服現在和未來的無線設計與測試挑戰的最新解決方案，包含支援LTE-Advanced （LTE-A）以及3GPP第11、12和13版標準的創新產品 |
|
Tektronix推出全新探測記憶體適用探棒頭 (2008.11.26)
Tektronix發表數款新的探棒頭，這些探棒頭具備高達8 GHz的訊號頻寬，包括P7500系列TriMode差動探棒的高溫應用。新的探棒頭是特別為探測DDR2和DDR3記憶體DIMM而設計，也可用於一般用途的探測應用 |
|
|
