04/02 TDR? VNA? 一個按鈕解決高速數位連接符合性驗證!

動輒5Gb/s（甚至10Gb/s）以上的高速數位時代已經來臨。這些高速資料傳輸技術雖大大提高了效能及帶來生活的便利，但也於信號完整性及相容性的設計與測試上帶來空前嚴峻的挑戰

活動時間: 2012年4月2日 (詳細內容)

11/14 理解電氣量測的基礎原理

有許多人需要進行電氣量測，但是他們不一定是該領域的專家。數不清的應用常常要求電流、電壓、電阻率、溫度等性能量測到不易實現的質量等級。無論選擇測試設備，設計測試系統還是使用現有設備進行量測，您都需要瞭解基本的檢查以確保最終量測符合測試要求

活動時間: 25分 (詳細內容)

04/29 半導體C-V測試之提示, 竅門及量測陷阱

這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題，主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數，如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期

活動時間: 51分鐘48秒 (詳細內容)

04/29 霍爾效應測量基礎

這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題，主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數，如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期

活動時間: 52分鐘56秒 (詳細內容)

04/29 半導體電容-電壓測試基礎

這個研討會是設計為介紹電容電壓測試這個主題，主要為其與半導體元件及材料特性的關聯。電容電壓測試普遍被使用來決定半導體參數，如摻雜濃度分布、介面能階密度、起始電壓、氧化物電荷、和載子生命期

活動時間: 40分鐘51秒 (詳細內容)