为满足产品功能复杂化及多样化的需求，IC设计在功能、效能和速度需不断提升，此举将造成组件设计及测试的复杂性，就半导体测试领域而言，主要包含混合讯号及RF IC测试，而混合讯号包括模拟及数字讯号，如何有效率的进行IC特性之分析及功能之验证，是系统IC设计者及混合讯号IC设计者之必要课题。有鉴于此，工研院产业学院特聘多年实务经验施文宗协理，开办此课程，由浅入深，针对集成电路模拟及混频特性及量测原理、测试机台、测试项目与测试方法、测试程序、操作环境及整体测试流程，进行实务性的解说，期能帮助学员对集成电路混频测试技术有全盘性的缭解.

上课日期：5月22-23日 (星期ㄧ、二)

1. Overview of Mixed Signal Testing

2. DC and Parametric Measurement

3. Sampling Theory

4. Measurement Accuracy and Test Hardware

上课日期：5月29-30日 (星期四、五)

5. DSP-Based Analog and Mixed Signal Test

6. Analog and Sampled Channel Testing

7. DAC and DAC Testing

8. ADC and ADC Testing