【金属产业智机化提升计画】

半导体产业中制造到成品必须经历很多材料的制程工序，每一个工序都可能会造成良率或可靠度不稳定。本课程着重积体电路制造产线过程中的监控量测与良率关系，确保积体电路制造中每一个制程都能符合预期成效，讲解如何设计监控的查核点(WAT)将是本课程的重点以及调整查核点(WAT)的严谨程度，解说与推论积体电路故障的成因以及用什么方法找出问题，借此来修正制程流程。

另外，产品等级的测试(CP)方法与制程关系也会进行解说，也会描述半导体元件或电路中与可靠度相关的知识与名词，让刚踏入这个领域的人员可以快速吸收从制程开始到产品完成过程中良率、故障与可靠度分析的所有专业知识。

最后，说明目前业界经常使用的故障分析工具来强化工作上的实战经验，让分析理论与工作实务得到验证。

【报名日期】即日起至109年4月14日