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NI發表顯示器檢測系統 (2002.04.12)
National Instruments(慧碁)發佈了一套功能強大、現成即用的軟硬體整合解決方案—全新的NI顯示器檢測系統(NI Display Test)，用於可靠的平面顯示器檢測。NI顯示器測試系統為生產線上及實驗室裏的工程師提供了一套性能超群的測試方案，足以勝任目前及未來各種測試、量測領域的任務需求 |
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NI新推出PXI嵌入式控制器展現即時控制效能 (2002.03.15)
工程師們現在能夠建立高達40 kHz控制迴路的高速即時控制系統，這一突破要歸功於National Instruments(慧碁)近日所發佈最快的RT系列PXI嵌入式控制器-NI 8176 RT 和 NI 8175 RT。
堅固封裝的NI 8176 RT控制器擁有1.2 GHz處理器，且執行LabVIEW Real-Time（LabVIEW 即時控制）程式時，速度比其他即時控制器快300%；比NI前一代功能最強的即時控制器-PXI 8170 RT快28% |
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NI LabVIEW 6.1增強了基於Web的測量功能 (2002.02.04)
National Instruments(慧碁)發佈了最新的LabVIEW 6.1。LabVIEW是NI公司所發展產業界所接受的圖形化開發環境，用於完成從研發到工業生產等各個環節測試，監控等應用系統的開發。NI 的LabVIEW 6.1建立在LabVIEW 6i Web功能的基礎上，進一步簡化了遠端應用程式的產生，同時還集結了最新的XML和無線通訊技術 |
