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CTIMES / 多埠測試系統
科技
典故		 從單一控制到整合應用──淺論晶片組的發展歷程

高度整合的晶片組不過是這幾年才發生的事，如果說CPU是電腦的腦部，Chipsets就可算是電腦的心臟了。
Agilent的多埠測試系統可加快RF元件的測試速度 (1999.12.10)
安捷倫科技(Agilent Technologies, Inc.)新近推出Agilent 87050E多埠測試系統，在大量製造的生產線上量測50歐姆RF元件的性能時，可大幅提高測試速度和準確度。 新的測試系統是專為搭配Agilent 8712E系列網路分析儀而設計的，兩者的組合提供一個高達3GHz的完整解決方案，可量測最多達12個埠的元件

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