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愛德萬測試V93000 SoC測試平台達25週年里程碑 (2024.08.21)
愛德萬測試 (Advantest Corporation) 迎來旗艦產品V93000系統單晶片 (SoC) 測試平台25週年慶。V93000發展單一可擴充平台策略，採用每支接腳都有一個測試處理器 (Test Processor-Per-Pin) 的架構，至今已歷經超過4代 |
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愛德萬測試領域延伸至新興市場開發 (2016.09.07)
半導體自動測試設備（ATE）供應商愛德萬測試(Advantest)近日推出新一代邏輯及記憶體測試機台。愛德萬測試於1954年在東京成立，在1990年成立台灣分公司，於2011年完成收購惠瑞捷(Verigy)加以強化產品組合與技術優勢，並於2012年12月啟用湖口新廠 |
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量測市場策略觀察 各有各的好 (2014.10.30)
(刊頭)
（Source：blog.presentationload.com）
引言
市場的快速變動，迫使量測業者必須作出反應，
以維持在市場的競爭實力，基於每家公司的背景不同，
所採取的策略也有所差異，但可以確定的是，他們各自擁有一片天空 |
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量測市場策略 各有各的好 (2014.09.10)
今年對於NI（美國國家儀器）來說，無非是變化相當大的一年，從基礎型的箱型量測儀器，或是先前所推出的STS（半導體測試系統），都可說是NI在產品策略上極具里程碑的重要進展 |
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愛德萬：PXI對ATE毫無威脅可言 (2014.09.04)
SEMICON TAIWAN 2014熱鬧開展，恰巧的是，ATE（自動測試設備）大廠愛德萬測試（Advantest）也適逢成立60週年，隨之而來的，是更為艱鉅的挑戰。
我們都知道，愛德萬測試併購了惠瑞捷之後，使得ATE市場有了不一樣的變化，兩家產品線的互補，使得愛德萬在ATE市場更具實質的影響力 |
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尋求成長動能 ATE業者跨足系統測試市場有譜？ (2013.10.03)
自ATE（自動化測試設備）大廠愛德萬測試（Advantest）在先前併購惠瑞捷後，愛德萬測試在全球ATE領域的領導地位更形確立，測試的解決方案也更加完整。
愛德萬測試台灣區總經理吳慶桓談到 |
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愛德萬完成收購惠瑞捷 摩拳擦掌打天下 (2012.06.14)
自動化測試設備(ATE)龍頭愛德萬在完成收購惠瑞捷(Verigy)的作業後，正全力展開新一波市場攻勢，期憑藉更完整的產品組合與技術優勢，目標在2014年拿下半導體試機台與分類機(Handler)市場過半的佔有率，以彰顯愛德萬與惠瑞捷聯姻的綜效 |
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可攜式產品錙銖必較 3D IC量測工夫再上層樓 (2011.09.07)
可攜式裝置將成為引領電子產業向前邁進的新動力，智慧型手機、平板電腦都是絕佳例證；而PC產業面臨挑戰，自也不遺餘力追求薄型化與輕量化。晶圓量測廠商惠瑞捷成為Advantest旗下子公司後再度發表新產品，推出新產品以因應3D IC與SIP時代之量測需求 |
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惠瑞捷宣佈收到愛德萬的修訂後併購提案 (2010.12.29)
惠瑞捷（Verigy）於日前宣佈，已收到來自愛德萬公司的修訂後併購提案，以每股15美元的現金價格收購惠瑞捷的所有上市普通股。關於修訂後的愛德萬提案，惠瑞捷董事會此時並不作任何推薦，此外惠瑞捷預計將繼續與愛德萬就修訂後的提案展開洽談，包括與潛在交易相關的監管部門方面的事務 |
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SoC和記憶體測試快狠準 惠瑞捷要捷足先登 (2010.07.21)
目前在晶片製造測試設備領域，主要供應大廠之間的競爭非常激烈，特別是在元件整合製造廠（IDM）、無晶圓IC設計公司（Fabless）、晶圓代工廠（Foundry）和委外組裝測試/封測代工（OSAT） |
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惠瑞捷產品說明記者會暨媒體餐敘 (2010.07.21)
惠瑞捷將舉行產品說明記者會暨媒體餐敘，惠瑞捷策略行銷部副總裁Mark Allison 及惠瑞捷副總裁暨ASTS總經理魏津博士將親臨會場，分別介紹惠瑞捷全新高速DRAM測試解决方案與說明惠瑞捷V101多功能測試平台的嶄新應用，並分享產業前景、趨勢發展 |
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惠瑞捷針對其生產驗證設備新增功能提昇擴充性 (2010.07.08)
惠瑞捷（Verigy）在日前宣佈，其經生產驗證的V93000平台中，新增了 Direct-Probe解決方案，進一步提升該平台的擴充性。該平台針對數位、混合信號，和無線通訊積體電路的高性能針測產品，進行量產、多點針測 |
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創意電子已採用惠瑞捷SoC測試系統 (2010.02.10)
惠瑞捷於昨日（2/9）宣布，創意電子 (Global Unichip) 已採用惠瑞捷V101測試系統。V101為惠瑞捷新推出的100 MHz測試系統，擁有低成本與零佔用空間等優勢，可協助創意電子進行更大量的平行測試並提升產出量，其易於操作的特性也將使軟體與測試程式的開發工作更具成本效益 |
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併Touchdown 惠瑞捷探針卡技術如虎添翼 (2010.01.25)
半導體測試設備與解決方案大廠惠瑞捷（Verigy）接櫫今年四大發展目標，除了計畫提升既有測試機台的影響力外，惠瑞捷也藉由併購Touchdown取得半導體探針卡（probe card）技術，同時惠瑞捷並計畫在18個月內把RF測試的市佔率提升到35％ |
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提供MCU測試系統完整因應客戶各階晶片生產策略 (2009.08.21)
MCU應用涵蓋於DVD、機上盒、數位相機和各類數位消費電子產品。由於低價格、效能提升、輔以應用領域不斷開展更加廣泛地支撐，目前低階MCU產品依舊主導全球MCU微控制器應用市場格局 |
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專訪:惠瑞捷台灣總經理陳瑞銘和ASTS總經理魏津 (2009.08.21)
MCU應用涵蓋於DVD、機上盒、數位相機和各類數位消費電子產品。由於低價格、效能提升、輔以應用領域不斷開展更加廣泛地支撐，目前低階MCU產品依舊主導全球MCU微控制器應用市場格局 |
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惠瑞捷之記憶體測試系統新增冗餘分析功能 (2009.07.15)
惠瑞捷(Verigy) 宣布為旗下V6000 WS測試系統新增記憶體冗餘分析功能SmartRA。SmartRA是一套可擴充、具備高度彈性及成本效益的解決方案，能幫助製造商解決DRAM冗餘分析中日漸成長的失敗儲存空間與效能需求 |
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惠瑞捷推半導體測試之全方位良率學習解決方案 (2009.06.25)
惠瑞捷公司 (Verigy)宣布推出全方位良率學習解決方案 (Yield Learning Solution)，該解決方案可在複雜系統單晶片晶粒 (SoC die) 上整合未切割晶片測試、即時擷取以及電性缺陷統計分析等功能 |
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惠瑞捷Flash及DRAM測試平台獲年度產品創新獎 (2009.05.24)
惠瑞捷公司 (Verigy) 宣布其V6000測試系統榮獲Frost & Sullivan 2009年度產品創新獎。V6000系統於2008年底推出，可在同一平台測試快閃記憶體與DRAM記憶體，大幅降低測試成本。多功能的V6000可調整適用於半導體記憶體的各個測試階段，包括工程測試、晶圓測試 (Wafer Sort)、以及終程測試 (Final Test) 等 |
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重新詮釋記憶體測試定義 (2009.04.03)
固態硬碟的應用，也會帶動快閃記憶體技術和測試的創新發展，包括更精密複雜的冗餘分析和錯誤修正碼計算方法、通訊協定或壞軌處理機制，以及克服快閃記憶體弱點的功能 |
