深耕於開發記憶體測試與修復技術的芯測科技(iSTART-Tek，簡稱 iSTART)，宣布SRAM的測試與修復整合性電路開發環境-START獲得聯陽半導體（ITE，簡稱聯陽）採用。芯測科技的 START 解決方案透過可支援Stand-Alone SRAM的Soft-Repair技術來修復損壞記憶體，不需要使用額外備援記憶體，且不增加芯片成本，其電路面積也較小，可幫助客戶提升良率並降低開發成本。

芯測科技(iSTART)所研發的記憶體測試與修復整合性電路開發環境-START是Tool-Based的解決方案，可自動生成內嵌(Built-in)記憶體測試和修復電路並導入客戶設計中，其產生的電路面積小並可以提供客製化功能設計協助。而START中Soft-Repair修復方式利用沒有使用到的SRAM（Stand-Alone SRAM）作為記憶體修復時需要的備援記憶體。特性為不需要額外的非揮發性記憶體與控制電 路來儲存修復相關設定資訊，因此可以節省整體晶片的面積，且晶片效能也不會被非揮發性記憶體的存取速度所侷限。

此外，芯測科技的產品工具友善度極高，再加上圖形化使用者介面（GUI），大大提升使用方便性，在配合技術人員的即時 支援，可快速解決客戶不同需求，協助客戶提高設計效率並滿足客戶不同應用的需求，更大幅提升晶片良率與降低芯片開發成本；再加上也實現矽晶驗證(Silicon-Proven)的紀錄，代表芯測的產品已完全達到業界要求，亦不會被製程 是否支援備援記憶體模組而限制，大大提升設計的彈性。