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晶片製程與設計再上高峰 EDA工具對應出招
 

【作者: 籃貫銘】   2008年08月06日 星期三

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自摩爾定律提出後,晶片製程便不斷快速的向下加壓,企圖在短時間內於單一晶粒(Die)中創造出更多的電晶體數量,同時延伸出整合度更高的晶片設計。在兩年前,市場的主流製程為0.13微米,但先進製程已發展至90、甚至是65奈米,而如今,0.13微米的產品以逐漸退出市場,90及65奈米將成為市場的老大,但肩負效能先鋒的邏輯晶片和記憶體晶片卻已前進至45奈米製程,甚至將在今年年底前,把製程一舉推至32奈米。


製程細微化之後,不單只晶片開發者面臨嚴峻的考驗,代工廠與設備業者也同樣備感壓力。包含曝光、蝕刻、成膜、濺鍍等製程技術,都必須再提高一個檔次,同時要避免過高的失敗率。因此,要有能力量產一個先進製程的產品,將變得愈來愈困難。為了解決新一代先進製程所帶來的種種問題,EDA工具商也嘗試透過新工具的提出和設計工具的強化,來協助客戶渡過製程挑戰,順利導入量產並提高獲利。


因應45奈米以下製程 配置與繞線技術再翻新
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