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內建式抖動量測試技術(上)
具有寬頻操作與高解析度

【作者: 李瑜、鄭乃禎、陳繼展】   2008年09月02日 星期二

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前言

時序抖動(timing jitter)為系統設計中普遍存在的問題。但是因為早期系統使用需求量不高,所以皆透過較低的訊號傳輸速度減少設計負擔,也因此抖動相較於整個週期時間所佔的比例非常微小。隨著積體電路日新月異,人們普及使用電腦並增加通訊頻寬需求,在各種通訊協定上都大幅增加其操作速度。在相同條件下時序抖動已在訊號間佔有相當大的百分比。因此與時脈相關的系統都會針對抖動做進一步的規範。


目前抖動量萃取的方式皆藉由儀器外部量測所得,但當系統操作速率增加後於量測上會遇到以下兩個問題:測試成本(cost)與測試準確度(accuracy)。從測試成本觀點來看,若要量測GHz以上訊號,示波器為得到準確量測數值其取樣率必須非常高速,動輒數十GS/s。因此軟硬體實現變得非常困難,測試機台成本也就大幅提升。此外,採用外部儀器測試晶片內部訊號,也會產生量測可靠度的問題。例如測試環境對於待測訊號的干擾、I/O介面頻寬之限制、晶片內部輸出緩衝器(output buffer)的雜訊…等等,這些皆會造成量測數值準確度下降。
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