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射頻系統整合與測試之挑戰
系統級晶片設計專欄(3)

【作者: 黃天偉】   2003年01月05日 星期日

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近十年來,因著手機與無線網路的大眾化,射頻(RF)系統已進入人們的日常生活中;現代無線通信與早期無線通信真正的差別在於其可移動性(Mobility),早期的無線通信產品,由於體積龐大笨重、耗電,不能達到個人移動性的需求,但因為高效能、低功率的RF IC出現,將傳統的無線通信技術帶入一個全新的個人行動通信時代。


在無線通信的領域中,因著可移動性的需求,無線產品會一直朝向輕薄短小的目標邁進,這個需求促使IC設計工程師發展各種新的RF系統結構,以達到更高度的RF-SoC (System-on-Chip)整合,如(圖一),新的無線網路(WLAN)射頻收發射(RF Transceiver)架構[1],將射頻直接轉換成基頻,越過中頻而減少許多原本中頻所需的元件(如SAW Filter)。RF系統整合希望將更多IC以外的獨立元件,用On-Chip元件取代。最終目標希望在天線到數位資料輸出中間達到最大的整合度。


雖然設計層面的整合是目前SoC發展所遇見的挑戰,但製程上已可預見即將面臨許多的瓶頸,例如將數位、射頻、混合訊號(Mixed Signal)等製程整合在同一晶片上,所以晶圓廠不斷提升製程水準,以應付SoC時代所需的更高整合度。位於製程後段的封裝測試業者,也面臨了相對應的嚴苛挑戰,必須將數位與RF測試設備同步結合,而且有偵錯及除錯的能力。
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