安捷伦科技在2002年欧洲微波论譠发表了测试转​​频器的校正新方法，不但提高测试转频器信号强度参数的精确度，更进一步解决转频器绝对相位与群延迟的测试限制。这些技术已被应用在安捷伦高性能向量网路分析仪中，搭配内建测试软体，简化了复杂的转频器测试。由安捷伦的新转频器高精度校正测试方法，应用于转频元件的向量校正，可以将量测转频元件的测试环境提升精确度至另一境界，有别于传统所执行的信号强度校正法及相对相位比较法，在此将作一些实例量测，并与传统方法做一比较。

在传统的网路分析仪双端口元件测试系统，所使用的校正系统误差模型为12个误差项，其中6个为顺向（forward direction），6个为逆向（reverse direction）。为了修正这12个误差项，所有的误差信号源必须被知道。所用的方法是执行一系列的标准件量测，例如以高品质的open、short、load及thru来做校正，所测得的资料与该标准件的响应做比对运算，便可得12的误差项的偏差。
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