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晶圆检测：高解析度全域快门相机提升晶圆缺陷检测效率
 

【作者： The Imaging Source兆鎂新】2024年09月25日 星期三
浏览人次：【3850】

在半导体制造行业中，晶圆的缺陷检测是确保产品品质的关键环节。晶圆缺陷检测的精确性直接影响到产品的质量和生产效率。


本文将详细介绍DFK38UX304相机在该应用案例中的表现，并探讨其如何提升检测效率和准确性。


人工检测的问题
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