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车用雷达IC设计之环境回圈验证
 

【作者: Sainath Karlapalem】2020年09月23日 星期三

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在恩智浦半导体(NXP Semiconductors),我与团队共同开发了一种验证车用雷达积体电路(integrated circuit;IC)设计的新方法。这种左移(shift-left)的方法结合了前期资料表层级度量指标的验证以及虚拟现场试验。借着专注于规格层级而不是硬体实现层级的度量指标,可确保使用来评估设计的验证签核(signoff)准则与客户最为注重的准则相符。而且,藉由在虚拟现场试验模拟路上情境,能够以逼真的雷达IC硬体测试刺激物来实现环境回圈(environment-in-the-loop)验证。


我们的客户之中包含了一级的汽车供应商,他们最关心信噪比(signal-to-noise ratio;SNR)和总谐波失真(total harmonic distortion;THD)等几种被撷取于资料表上的性能表现度量指标。他们对于个别元件的测试结果、程式码覆盖结果、以及其他硬体实现层级的度量指标比较不感兴趣,不过对大部分IC验证团队来说,这些结果却是他们最主要的考量。


除此之外,客户使用现场试验及真实世界的驾驶情境来评估完整的雷达系统,而IC验证团队则经常使用与真实世界讯号相距甚远的测试型态,用来评估个别的RF、类比,以及数位元件(图1)。
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