CTIMES - 測試與量測

浩網經銷Keithley 2700資料蒐集器 (2000.07.20)
浩網科技宣佈，將經銷高精密數位電表製造商美商吉時利儀器公司。浩網表示，為因應客戶自動化量測的需求，吉時利以Keithley2000，6位半電表為心臟，推出Keithley2700資料蒐集器，浩網即日起經銷此款產品，單機可擴充至80個測試頻道，備有5種模組，可配合客戶測試及自動化控制的需求來應用搭配

Tektronix發表服務品質量測系統新功能 (2000.07.13)
Tektronix表示，該公司發表2.0版的Net-C監測系統，該系統是監測行動與固定通訊網路服務品質(Quality of Service, QoS)的營運中非介入量測裝置，新版本在系統上有許多重大的改進

太克與IE公司合作建構光學測試平台 (2000.07.04)
太克科技(Tektronix)公司於日前宣佈，世界性電信測試系統大廠IE(Instrumentation Engineering)公司訂購了價值6百萬美元的Tektronix多通道高速光纖測試儀器，將會應用在其IE Convergence系列光學測試解決方案

Tektronix行動通訊服務品質新網站開幕 (2000.06.16)
Tektronix為了強化對於國際行動通信業者的協助與服務，特別設立了一個新的網站www.mobileqos.com，提供行動網路服務品質(Quality of Service；QoS)各方面完善的資訊。管理行動網路的QoS需要有堅固的測試、量測及監測工具，Tektronix為了滿足現代行動網路業者的最嚴格要求，提供了各種完整的可調整解決方案

Tektronix再獲600萬美元訂單 (2000.06.15)
Tektronix宣佈，世界性電信測試系統大廠Instrumentation Engineering, Inc.(IE)訂購了價值600萬美元的Tektronix多通道高速光纖測試儀器，將會應用在其IE Convergence系列光學測試解決方案

Tektronix推出全球最快的即時示波器TDS7000系列 (2000.06.01)
太克科技(Tektronix)宣佈在新型數位螢光示波器(Digital Phosphor Oscilloscopes；DPO)系列中首次推出劃時代的4 GHz即時性能。TDS7000系列示波器是基於一種新穎的Open Windows平台式操作為基礎，其創新項目包括：高達20-GS/s的即時取樣率、32-MB的記錄長度(項為4M)高達4-GHz的頻寬等

企業價值的排他性是好事─研華科技總經理朱伯倫專訪 (2000.06.01)
企業的價值觀如果清楚，不可避免地就會產生排他性，價值觀不符的人就不會待在該企業裡，但這是好事，因為如此一來便不會引起力量的分散及內耗... 參考資料

美商Micronetics推出MicroCal (2000.05.10)
美商新一代之專利產品〔MicroCal〕模組是一個小體積，表面黏著之雜訊模組。它被設計用於產生：精確ˋ可預測ˋ可重複的過量噪音比，可應用於目前之無線通信，大哥大手機及衛星通信網路系統之內建測試

Tektronix推出新的MTS300 MPEG測試系統 (2000.05.05)
Tektronix宣佈推出新的MTS300 MPEG測試系統；這套系統是為了詳細分析數位視訊設備中MPEG-2錯誤訊號，目前研發出速度最快、更容易操作的量測儀器。MTS300系統是協助工程人員用於設計或評估數位視訊產品

示波器的演進與應用 (2000.05.01)
參考資料：

GPS的技術與發展 (2000.05.01)
參考資料：

具網路連線功能的示波器及測試儀器 (2000.03.01)
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環球衛星通訊的新紀元 (2000.03.01)
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Rick Wills出任Tektronix CEO (2000.02.16)
太克科技日前宣佈由Rick Wills出任總裁兼執行長並擔任該公司董事，這項人事任命落實了Tektronix稍早的計劃藍圖。前任總裁及執行長Jerry Meyer將卸任其職務，但仍繼續擔任董事長，積極參與公司的事務

德律科技推出TR-6010S TN/STN LCD Driver IC測試機 (2000.02.15)
從事半導體測試設備(IC Tester)及組裝電路板自動化測試設備(Auto Test Equipment)已有11年經驗的德律科技公司，於去年十月份推出10MHZ TR-6010數位IC測試機後，又將於今年二月份再推出專為TN/STN LCD Driver IC所設計的TR-6010S IC測試機

探討Rambus高速數位設計的應用與解決方案 (2000.02.01)
參考資料：

信號產生器頻譜精純度-無線通訊系統和元件測試考量要素 (2000.01.01)
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Agilent的多埠測試系統可加快RF元件的測試速度 (1999.12.10)
安捷倫科技(Agilent Technologies, Inc.)新近推出Agilent 87050E多埠測試系統，在大量製造的生產線上量測50歐姆RF元件的性能時，可大幅提高測試速度和準確度。新的測試系統是專為搭配Agilent 8712E系列網路分析儀而設計的，兩者的組合提供一個高達3GHz的完整解決方案，可量測最多達12個埠的元件

太克科技量測技術研討課程 (1999.12.06)
「工欲善其事，必先利其器」，瞭解工具的特性將有助您突破量測困境、提昇工作效率。太克舉辦「示波器基本原理及應用」、「邏輯分析儀基本原理及應用」、「高速電路阻抗量測的原理及應用」、「數位視訊傳輸系統的原理及量測」與「曲線追蹤儀原理及應用」之研討會

新世代IC封裝設計與量測技術研討會 (1999.11.29)
近年來在IC封裝的技術與產品轉型上，業者面臨不少的衝擊與挑戰，一些嶄新的的封裝型態如PBGA、CSP乃至於Flip Chip、MCM等，多已出現在各專業IC封裝廠、BGA基板廠或IC設計公司的產品Road Map上