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LED测试难上青天？ NI新款SMU轻松应对 (2014.02.21)
高亮度LED、IGBTS，与MOSFET等组件，常需要SMU输出瞬间高瓦数的电源进行量测。但高瓦数的SMU往往价格昂贵。此外，高瓦数的组件测试常需要散热机制，这造成了自动测试上的复杂度也因此增加 |
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[市场]合作创新局 NI和太克首推高阶模块化示波器 (2011.05.25)
美商国家仪器（NI）和太克科技（Tektronix）在第八届大中华PXI技术与应用论坛上共同宣布合作推出目前业界最高带宽的PXI模块化示波器（digitizer）产品。这款模块化示波器是NI和太克在硬件上首次的合作成果，对于双方以及PXI和量测仪器业界来说，都具有高度指针性的意义 |
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第八届中华PXI TAC：摩尔定律下的自动化测试演进 (2011.05.23)
由美商国家仪器 (NI) 所领军主办的第八届大中华 PXI 技术与应用论坛已在日前圆满落幕。本届 PXI TAC 活动除了与会人数再次创下新高之外，现场各家厂商多元的展出更让本次活动看头倍增 |
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Tektronix授权台湾大学e-Learning量测数字教材 (2010.02.01)
Tektronix授权国立台湾大学电机工程学系e-Learning量测数字教材，签约仪式日前于台湾大学举行。Tektronix亚太区营销部协理张天生、台湾区业务经理吴俊贤，以及台湾大学电机信息学院李琳山院长、电机系胡振国主任等人，共同参与授权签约仪式 |
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USB 3.0即将笑傲江湖！ (2009.03.05)
今年度USB 3.0可望按部就班进入市场应用阶段，商业化发展前景可期，相关验证测试方案也已经准备就绪，不过整合设计能否突破、各方支持是否到位，将深刻影响USB 3.0的市场应用广度 |
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革新探棒设计提升高速串行传输测试效率 (2009.01.22)
随着多媒体视讯数据传输应用越来越普及，Gigabite级高速串行数据传输标准的效能也越来越重要。无论是PCI Express 2.0、USB 3.0、Serial Rapid IO、HDMI、DisplayPort还是其他Serial ATA、Serial Attached SCSI（SAS）、光纤信道、InfiniBand、Gigabit Ethernet（GbE）、XAUI等标准 |
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专访：Tektronix亚太区市场业务经理张天生 (2009.01.22)
随着多媒体视讯数据传输应用越来越普及，Gigabite级高速串行数据传输标准的效能也越来越重要。无论是PCI Express 2.0、USB 3.0、Serial Rapid IO、HDMI、DisplayPort还是其他Serial ATA、Serial Attached SCSI（SAS）、光纤信道、InfiniBand、Gigabit Ethernet（GbE）、XAUI等标准 |
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结合任意波形产生与高速串行自动化平台的SATA测试解决方案 (2008.04.03)
在以多媒体数字通讯为技术核心的消费电子时代，高速串行Giga传输率持续增加，即插即用的互操作性已成为必备标准化规格。这时针对高带宽且高效能的高速串行标准的仪器测试技术，也面临更多的挑战 |
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太克科技2008年新产品发表记者会 (2007.12.31)
太克科技新春献礼！2008年1月11日在台北君悦饭店3楼鹊迎厅，将举办「太克科技2008年新产品发表」记者会。会中将介绍新产品特性及功能，并实机展示。 |
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太克科技2007年亚太区巡回研讨会 (2007.11.21)
新数字技术的崛起，为电子产业带来新的挑战及契机。太克科技公司将举办「太克科技2007年亚太区巡回研讨会」记者会。会中将针对「新数字世界」及「高速串行数据」做介绍，内容则着重于「实现新数字世界创新技术」议题的探讨 |
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精益求精打造完备的高速串行传输讯号测试环境 (2007.10.21)
高速串行传输技术不断日新月异，应用层面也越来越广泛，若要发挥高效能的高速串行传输技术，让量测以及系统工程师在测试过程中能够辨别清晰可读的讯号，便是非常重要的关键 |
