04/02 TDR? VNA? 一个按钮解决高速数字连接符合性验证!

动辄5Gb/s（甚至10Gb/s）以上的高速数字时代已经来临。这些高速数据传输技术虽大大提高了效能及带来生活的便利，但也于信号完整性及兼容性的设计与测试上带来空前严峻的挑战

2012年4月2日 (详细内容)

04/29 半导体C-V测试之提示, 窍门及量测陷阱

这个研讨会是设计为介绍电容电压测试这个主题，主要为其与半导体组件及材料特性的关联。电容电压测试普遍被使用来决定半导体参数，如掺杂浓度分布、接口能阶密度、起始电压、氧化物电荷、和载子生命期

51分钟48秒 (详细内容)

04/29 霍尔效应测量基础

这个研讨会是设计为介绍电容电压测试这个主题，主要为其与半导体组件及材料特性的关联。电容电压测试普遍被使用来决定半导体参数，如掺杂浓度分布、接口能阶密度、起始电压、氧化物电荷、和载子生命期

52分钟56秒 (详细内容)

04/29 半导体电容-电压测试基础

这个研讨会是设计为介绍电容电压测试这个主题，主要为其与半导体组件及材料特性的关联。电容电压测试普遍被使用来决定半导体参数，如掺杂浓度分布、接口能阶密度、起始电压、氧化物电荷、和载子生命期

40分钟51秒 (详细内容)

04/02 标准画质与高画质 SDI 环境中的关键量测

The transition to digital video and from standard to high definition formats poses new technical challenges for television professionals. This presentation compares standard and high definition, gives examples of relevant measurements for each, and describes tools available in Tektronix products

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