半導體測試設備供應商愛德萬測試 (Advantest)發表旗下TAS7400TS太赫茲光學取樣分析系統的最新高頻率解析度選項。新選項具備優異的成本效益又操作簡便，為無線電波吸收與基板材料之高頻特性評估。提供了極具開創性的測量方法。這些材料都是Beyond 5G / 6G次世代通訊科技、還有應用於先進駕駛輔助系統(ADAS)之毫米波雷達科技所不可或缺的要件。

愛德萬發表的TAS7400TS太赫茲光學取樣分析系統的最新高頻率解析度選項。能進行Beyond 5G下一世代通訊技術趨勢的材料特性量測

向量網路分析儀(VNA)於評估毫米波和高頻領域各類材料之傳輸特性 (穿透率、反射率) 與複雜的介電常數的廣泛應用已久，近年來，在更廣頻寬進行這些特性評估的需求更為重要，因此VNA花費在測定與校準每一個頻段的時間與工夫逐漸成為需要檢討的課題。

愛德萬測試的太赫茲光學取樣系統，透過對廣泛頻段進行批次測量以及脈衝電磁波的運用，能解決上述問題。現在，只要一套小巧的光學取樣系統 (測量環境) 就能執行測量任務，既經濟又省空間；還有映射量測選項，能進行材料表面頻率特性的分析。不僅如此，TAS7400TS最新選項的頻率解析度與掃描速度是之前產品的5倍，也使其成為評估新材料之高頻特性最理想的解決方案。

該解決方案將於11月8日至10日於日本分析科學儀器展（JASIS）、11月24日至26日於日本2021微波工作坊暨展覽會（MWE 2021）展出。

<產品規格>

頻率範圍：0.03~ 2THz (Bandwidth (SNR=1))

頻率解析度：380 MHz

掃描速度：40 ms / scan

量測項目：穿透率、反射率、相位差、複雜的介電常數、散逸率