美商國家儀器（NI）於日前宣佈，推出高頻寬的PXI示波器。此項產品是NI與太克科技所共同研發，NI PXIe-5186示波器具備太克的Enabling技術，可達最高5 GHz頻寬與12.5 GS/s取樣率。值此同時， NI同時也發表了可達3 GHz頻寬與12.5 GS/s取樣率的NI PXIe-5185。此2款示波器均屬於NI PXI 架構的軟/硬體平台系列，可為自動化測試應用提供最佳效能。

NI 和 太客所共同合作開發的業界最高頻寬 PXI 示波器--NI PXIe-5665

NI 的創辦人兼執行長Dr. James Truchard表示，NI很榮幸可與太克共同開發產品，且順利整合太克的高速數位化功能，以及NI的軟體定義儀控這兩者的強項。新款示波器將進一步驗證摩爾定律 (Moore's Law) 對測試應用的影響，也透過PXI規格，以更小體積達到更高效能。

據NI消息指出，新款示波器搭載太克的專利ASIC，以低雜訊與高線性進行高速訊號擷取作業，且以IBM 7HP SiGe 處理功能為基礎。另外太克並以Enabling技術提昇訊號穩定性，讓示波器達到極低的取樣抖動。示波器內部僅達500 fs RMS抖動，以5 GHz達到5.5有效位元數。NI 高資料傳輸量技術亦榮獲專利，可達更高速的測試作業與精確的多重模組時序/同步化，適於建構高通道數的測試系統。

此2款示波器是針對3U PXI Express平台所設計，可達700 MB/s串流速率；並可透過160 ps以內的解析度，而同步化多個模組的通道。上述功能使此2款示波器適用於自動化生產測試、半導體ATE與高能物理的量測系統。