安捷倫科技（Agilent Technologies）宣佈，旗下最高性能的PNA-X網路分析儀推出源端修正式（source-corrected）雜訊指數量測選項，此高效能的雜訊指數量測技術具有極高的準確度。將此選項直接內建在Agilent PNA-X中，可為開發和測試最高頻率在26.5 GHz以下的低雜訊電晶體、放大器與發射/接收（T/R）模組的研發及生產製造工程師，提供一套完整的單次連接、多次量測解決方案。

安捷倫推出新的源端修正式雜訊指數量測選項

測試航太/國防及無線通訊系統中用到的元件時，需要執行雜訊指數量測。這些量測通常並不容易進行，特別是無法直接將雜訊源與待測元件相連接時。這樣的情況對今日的自動化測試設備，以及晶圓上/直接連接夾具的測試系統來說，可能會產生一些問題。安捷倫科技新推出的源端修正式雜訊指數量測選項可以消除這些問題，因為它能提供獨特的單次連接解決方案，以執行S參數和雜訊指數量測，以及許多其它的量測，包括諧波、壓縮和交互調變失真等量測。只要透過單連接即可執行所有量測的便利性具有多項好處，包括可加快測試設定和產品上市的時間、提高生產的產出速度、減少接頭和探棒的磨損、以及降低晶圓毀損的風險。

安捷倫科技的源端修正式雜訊指數解決方案是依據Agilent 8510網路分析儀首創的整合式向量誤差修正冷源（vector-error-corrected cold-source）技術所設計的。運用Agilent PNA-X和Agilent Ecal模組（做為阻抗調整器），可以消除系統的源端匹配不完美所造成的影響，能大幅提高冷源技術的準確度。這種方法所能達到的準確度超越了今日以量測Y係數為基礎的雜訊指數分析儀或頻譜分析儀解決方案所能提供的準確度。