安捷倫科技（Agilent Technologies Inc.）針對光纖元件和系統的研發與製造，在旗下的光纖測試組合中加入6款新的極化分析與控制解決方案。這些新產品可讓研究與設計人員以無可比擬的速度和準確度，對所有極化相關參數進行完整的特性描述。安捷倫將在9月17-19日於德國柏林國際會議中心舉辦的歐洲光纖通訊展（ECOC）中，在15號展示館的069-074號攤位首次展示這些產品。

這些產品是以安捷倫在2007年6月購併的Adaptif Photonics所開發、且經產業證實可靠的技術為基礎。對製造商來說，這個新的產品組合針對校準、調整和最終測試提供了快速又經濟的控制與測試解決方案，有助於降低測試成本及提升良率和產能。

安捷倫的新款極化產品與測試解決方案中，N7781A是一款小巧的高速極化分析儀，它具備了分析光纖信號的極化特性之完整能力，包括邦加球（Stokes參數）的極化狀態（SOP）再現。而N7782A PER分析儀是為了以高速及絕佳準確度來測試PM光纖的極化消光比（PER）而設計。即時量測能力加上自動化介面，使這款儀器非常適合整合到製造系統中，例如光纖元件的引線處理台；N7783A熱循環裝置完全由Agilent N7782A PER分析儀所控制，它可為待測光纖提供準確又穩定的溫度循環。另外，新的極化控制器系列N7784A、N7785A和N7786A，即使輸入SOP因溫度偏移和機械穩定過程而產生波動和偏移，也能提供穩定的輸出SOP。這可以提升校準和調整過程的速度與可靠度，從而節省時間和成本。Agilent N7786A內建一個偏極計，可提供高速的極化分析能力；在每秒高達1M個取樣的取樣率下可擷取超過500,000個取樣。而N7788A元件分析儀的專屬技術可媲美著名的光纖元件瓊斯矩陣本徵分析（Jones-Matrix-Eigenanalysis; JME）或差動群組延遲（DGD）。安捷倫新的單一掃描技術提供了一組完整的參數，包括DGD/PMD/PDL/二階PMD、功率 /損耗、TE/TM損耗、主極化狀態 (PSPs)、及Jones和Mueller矩陣，這些全都整合在一台測試儀器中。