安捷倫科技（Agilent）於日前宣佈，旗下的 Agilent Medalist i3070系列5內電路測試（ICT）解決方案，在4月底的2010年上海Nepcon貿易展中獲得兩項技術大獎。這些獎項旨在表彰產品的創新和可靠性，對改善現今成熟的SMT製造環境中的產品品質所做的貢獻。

該Agilent i3070系列5內電路測試解決方案，被提名為第四屆SMT China遠見獎，及2010年EM Asia創新獎測試類，並分別在4月20及21日在上海Nepcon展中宣佈獲獎。此外，Agilent i3070系列5並入圍2009年EDN創新獎，及2010年Test and Measurement World最佳測試產品獎決賽名單。

台灣安捷倫科技電子量測事業群總經理張志銘表示，很榮幸獲得SMT China和EM Asia創新獎，不光是亞洲，更要感謝全球的客戶選擇與安捷倫合作。客戶的電路板測試需求，以及安捷倫在下一個挑戰出現之前預做準備和不斷創新的決心，是促進內電路測試技術持續發展的關鍵。

Agilent i3070系列5是安捷倫最新的內電路測試儀器，其創新特色包括可維持高相容性，並提供更快的測試速度等額外功能。新的安捷倫公用程式卡，可讓使用者經由插入式電子來加入自訂功能，使Agilent i3070系列5發揮最大的效益。該系統還提供廣泛且彈性的電源管理能力，並可讓仍在使用舊款Agilent 3070和Agilent Medalist i3070內電路測試儀器的使用者進行升級。