愛德萬測試 (Advantest Corporation)將在5月22至24日，於吉隆坡新落成的馬來西亞國際貿易展覽中心 (Malaysia International Trade and Exhibition Centre，MITEC) 盛大舉行的東南亞國際半導體展 (SEMICON Southeast Asia) 展示先進產品與服務。愛德萬測試為本次大會的銀級贊助商。

愛德萬測試將在第727號攤位展示其革命性的EVA100量測系統，該系統應用範圍廣，從工程到量產環境皆適用。擴充性佳的EVA100能同步控制多重測試功能，執行高精準度量測任務，為客戶提升測試效率，縮短產品上市時間。

此外，愛德萬測試亦將展示創新CloudTesting服務，為半導體設計、電子零件研發、原型測試、失效分析和學術研究提供成本效益高的隨選測試解決方案。

同樣將在攤位上亮相的還有M4171可移動、Single-site分類機，該款分類機具備自動元件上載與卸載以及主動式溫度控制 (ATC) 功能，是工程環境的最佳選擇。

5月23日 (三) 下午3：10，愛德萬測試資深研發暨應用工程師Shang Yang博士將於「IC失效分析與缺陷特徵論壇」(IC Failure Analysis and Defects Characterization Forum) 發表「以高解析度時域反射技術檢測3D晶片缺陷特徵」(3D Chip Defect Characterization by High Resolution Time-Domain Reflectometry) 論文。

愛德萬測試亦將於5月24日 (四) 的「產品與系統等級測試論壇」(Product & System Level Testing Forum) 發表兩篇論文。上午10：25登場的是新加坡格羅方德半導體公司 (GLOBALFOUNDRIES Singapore Pte. Ltd.) 測試開發工程經理Ting Jia Wen，發表「5G毫米波未來測試方法在ATE等級的應用」(5G mmWave Future Testing Methodology at ATE Level) 論文。接著在11：05，愛德萬測試應用工程師Alvin Siew將以「解決電動車大功率類比IC測試的強烈需求」(Addressing the Robust Testing Needs of High-Power Analog ICs in Electric Vehicles) 為題發表論文。