美商國家儀器（NI）於日前宣佈，已再度擴充其PXI平台的功能，以新款Per-pin Parametric Measurement Unit (PPMU) 與電源量測單位模組，用於半導體特性描述與生產測試。NI的 PXIe-6556 - 200 MHz高速數位I/O具備PPMU；NI PXIe-4140與NI PXIe-4141 - 4通道SMU可降低設備成本、縮短測試時間，並提生混合式訊號的彈性，可測試多款裝置。

NI表示，PXIe-6556高速數位I/O模組，可達最高200 MHz而產生/擷取數位波形；或於同一針腳上，以 1% 誤差之內執行DC參數量測，可簡化接線作業、減少測試次數，並提高測試器密度。此外，其內建的時序校準功能可自動調整時序，可降低不同連接線與線路長度所造成的時序歪曲，亦可降至最低。NI PXIe-6556亦可選擇是否以其他NI SMU切換，以達更高精確度。工程師可根據硬體或軟體觸發器，進而觸發參數量測作業。

該公司並進一步表示，PXIe-4140/41 SMU模組可於各PXI Express插槽，提供最多4個SMU通道；而4U機架高度的單一PXI機箱可達最多68個SMU通道，以輕鬆測試高針腳數的裝置。透過1秒可達最多600,000樣本的取樣率，工程師可大幅減少量測次數，或擷取重要的暫態特性參數。此外，NI PXIe-4141具備新一代的 SourceAdapt技術，讓工程師可根據任何已知負載而微調SMU輸出，達到最高穩定度與最短暫態期間。