帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
是德科技全新 PathWave方案加速產品開發工作流程案
 

【CTIMES/SmartAuto 報導】   2019年01月31日 星期四

瀏覽人次:【7274】

是德科技(Keysight Technologies Inc.)宣布旗下的 PathWave Advanced Design System (ADS) 2019 套件新增了 PathWave Memory Designer 雙倍資料速率(DDR)記憶體模擬功能。利用此全新功能,開發人員可輕鬆地將模擬資料與實際量測結果進行比較,以縮短完成產品開發工作流程所需的時間。

隨著新一代的 DDR 記憶體設計變得日益複雜,其模擬和測試配置的複雜度因而不斷提高,所耗費的模擬和測試設定時間也越來越長。如此一來,想要將模擬和測試資料進行關聯性比對變得更為困難,不但降低了設計可信度,還延長了故障排除時間,最終錯過了最佳的產品上市時程。PathWave ADS Memory Designer 可連接模擬和測試工作流程,並利用新的工作流程,解決常見的 DDR 記憶體設計挑戰。

是德科技設計和測試軟體部門副總裁暨總經理 Todd Cutler 表示:「今天,電子產業共同面臨的一項挑戰是,以更高的效率完成產品開發工作流程;尤其是他們必須將各個單獨的設計和測試任務串連在一起,使得困難度進一步升高。

Keysight PathWave 為工程師提供了一種收集、共享和分析測試與量測資料的方法。適用於 PathWave ADS 的 Memory Designer 針對 DDR 模擬提供新的工作流程,可縮短設計週期並減少專案延遲的風險。」

關鍵字: 記憶體  是德科技 
相關產品
是德科技可攜式800GE桌上型系統 適用於AI和資料中心互連測試
美光最低延遲創新主記憶體MRDIMM正式送樣
是德推出PCI Express 6.0協定驗證工具 加速開發高效I/O技術
美光兩款資料中心新硬碟 採用200層以上NAND
是德推出2 GHz即時頻譜分析解決方案 可監控衛星干擾情形
  相關新聞
» 筑波醫電攜手新光醫院於台灣醫療科技展展示成果
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 共封裝光學(CPO)技術:數據傳輸的新紀元
» 高速數位訊號-跨域創新驅動力研討會
» 高級時尚的穿戴式設備
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.2048.172.70.34.165
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: [email protected]