安捷倫科技（Agilent）宣佈與Hynix半導體合作生產一款為DDR和GDDR SDRAM驗證而最佳化的高頻寬、高效能長線ZIF（zero insertion force；零插力）探針頭。該長線ZIF探針頭可讓工程師在探量距離較遠的信號時，能準確地量測高速信號。安捷倫表示，這些探針頭可搭配安捷倫的InfiniiMax和ZIF探量系統使用，能提供較佳的可用性和較低的焊接成本。

該探量選項可解決DDR設計的一個基本挑戰：它可以讓工程師探量DRAM晶片上難以觸及的位置，同時保持信號的完整性。隨著DDR和GDDR SDRAM元件的速度愈來愈快，以及設計邊限不斷地縮小，探量系統的效能顯得格外重要。長線ZIF探針頭，正足以克服該項探量挑戰。而DDR和GDDR驗證的另一項挑戰是，依據JEDEC規格所需測試的信號數。長線ZIF探針頭的設計，可讓工程師在SDRAM元件上所要探量的多個信號間輕易地切換。