帳號:
密碼:
最新動態
產業快訊
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
安捷倫新奈米壓痕技術可對薄膜材料進行基板量測
 

【CTIMES/SmartAuto 林佳穎報導】   2010年12月06日 星期一

瀏覽人次:【2043】

安捷倫科技(Agilent)於日前宣佈,推出Agilent G200奈米壓痕測試儀平台專用的創新奈米壓痕技術。其賦予研究人員利用該技術,可快速、容易且對薄膜材料進行基板獨立量測。該技術很適合用來評估軟基板上硬待測樣品的彈性模數,或硬基板上軟樣品的彈性模數。

台灣安捷倫科技董事長暨電子量測事業群總經理張志銘表示,安捷倫的應用科學家針對存在已久的奈米壓痕測試挑戰,設計了一款易於操作的智慧型解決方案。該新的技術對於各領域正在進行的研究工作,將產生直接的影響。

使用奈米壓痕技術來評估薄膜材料的彈性模數時,基板的影響是很常見的問題。假如薄膜材料的厚度和基板模數是已知的,則該技術可以從受基板影響的模數量測值萃取薄膜材料的模數。因此,該技術相當適用於各種薄膜基板系統。

Agilent G200奈米機械測試儀器,其利用電磁啟動,在力(force)和位移(displacement)動態範圍。此外,Agilent G200並符合ISO 14577標準,可量測楊氏模數和硬度值,並可執行涵蓋10的6次方的變形量測 – 從奈米到毫米。

關鍵字: 奈米壓痕  奈米機械測試儀  安捷倫(Agilent
相關產品
是德科技高效能型音頻分析儀新增Bluetooth音頻量測功能
是德科技AXIe寬頻數位接收器新增多模組同步功能
是德科技發表USB Type-C協定觸發與解碼軟體
是德科技全新系列電氣和工業用手持式數位萬用電錶
是德科技新款四通道電源分析儀提供精準化動態量測功能
  相關新聞
» 筑波醫電攜手新光醫院於台灣醫療科技展展示成果
» Anritsu Tech Forum 2024 揭開無線與高速技術的未來視界
» 安立知獲得GCF認證 支援LTE和5G下一代eCall測試用例
» 資策會與DEKRA打造數位鑰匙信任生態系 開創智慧移動軟體安全商機
» 是德科技推動Pegatron 5G最佳化Open RAN功耗效率
  相關文章
» 最佳化大量低複雜度PCB測試的生產效率策略
» 確保裝置互通性 RedCap全面測試驗證勢在必行
» ESG趨勢展望:引領企業邁向綠色未來
» 高階晶片異常點無所遁形 C-AFM一針見內鬼
» 高速傳輸需求飆升 PCIe訊號測試不妥協

刊登廣告 新聞信箱 讀者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 遠播資訊股份有限公司版權所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8CC5QB5GMSTACUKS
地址:台北數位產業園區(digiBlock Taipei) 103台北市大同區承德路三段287-2號A棟204室
電話 (02)2585-5526 #0 轉接至總機 /  E-Mail: [email protected]