NI 美商国家仪器推出 NI PXIe-5162 示波器，以及 LabVIEW 抖动分析 (Jitter Analysis) 工具组的最新信息。这款示波器具有 10 位的垂直分辨率，取样率则是 5 GS/s，因此相较于传统的 8 位示波器，高速量测的垂直分辨率可增加 4 倍之多。NI PXIe-5162 的单一插槽具有 1.5 GHz 的带宽与 4 个信道，极适合多信道数的示波器系统，可用来制造测试、研究、装置特性描述。LabVIEW 与 LabVIEW 抖动分析工具组可搭配这款示波器一起使用，此工具组具备优化的函式库，可针对自动化的检验/生产测试环境，执行高传输率的抖动、眼图 (eye diagram) 与相位噪声量测作业。

NI LabVIEW 抖动分析工具组的画面。 BigPic:679x361

「NI PXIe-5162 示波器可执行高速、高分辨率、多信道数的量测作业，当传统示波器的客户在面对自动化测试时，可享有另一种有别于旧式箱型仪器的新选择」，NI 模块化仪器研发总监 Steve Warntjes 指出：「如果把这款高速示波器搭配 LabVIEW 抖动分析工具组一起使用，即可运用现代计算机的处理效能，舍弃箱型示波器的旧款嵌入式处理器，进而发挥量测系统的效能。」