半导体测试设备供应商爱德万测试 (Advantest Corporation)日前发表两款最新通用型硬体设备500MDM数位模组与DPS32A电源供应模组，扩充旗下T2000测试平台功能，涵盖诸如系统单晶片 (SoC)元件、电源管理IC、车用元件和CMOS影像感测器等应用，以因应日益成长的数位转型市场。两款新硬体皆相容於现有测试系统，如T2000 AiR平台轻巧的设计能因应各类环境限制，从工程实验室到量产制造现场都适用。

爱德万T2000测试平台最新数位模组与电源供应模组进一步扩充测试功能、提升成本效益

现今行动电子市场快速成长，大量制造的半导体元件皆强调低功率运行，以延长电池续航力。为了测试这些IC元件，不仅需要小电流和迅捷的处理速度，还要能进行高精度的叁数量测，以及具备高精度的输出电压源和够深的扫描图样记忆体(Scan pattern memory)。

为了在T2000测试平台满足上述需求，爱德万测试推出最新128通道气冷式500MDM数位模组，能处理资料传输速率达500Mbps的元件，除了超大32-Gbit扫描图样记忆体外，更为所有32 I/O通道设计专用的高效能叁数量测单元，将T2000系统的电流容量进一步扩充至每I/O通道60豪安(mA)。

藉由最新的32mA DPS32A元件的电源供应，都能因应任何类型的消费性电子元件。升级後的系统具有32个通道，提供4伏特电压/1安培电流，其高解析度叁数量测与持续采样功能，能支援Delta-IDDQ量测与IDD频谱量测等最新测试方法。此外，与前代DPS500mA电源供应模组相比，新系统具备量测超低待机电流的能力。

T2000 AiR气冷式测试平台，特别针对研发与量产测试成本效益的提升进行优化设计，与市面上其他气冷式测试机相较，能提供最快的作业速度和最大的扫描图样记忆体。其模组化结构能发挥最大弹性，最新500MDM和DPS32A都能装载进来。再者，由於T2000 AiR不需要连接外部循环冷却水，因此哪里都可以安装。除此之外，T2000 AiR的软体亦能与扩充性绝隹的T2000系列产品完全相容。

爱德万测试T2000事业单位??总Toshiaki Adachi表示：「我们两款最新硬体单元进一步拓展了T2000测试平台功能，满足投入穿戴式电子等物联网 (IoT) 产品相关研发生产之IDM厂、晶圆厂和半导体IC设计公司的测试需求。新设备的模组化设计与相容性，不仅能协助客户节省资本支出，亦符合爱德万测试的产品组合策略。」

500MDM数位模组与DPS32A电源供应模组皆已开始向客户出货。