安捷伦科技（Agilent Technologies Inc.）日前宣布推出功能强大的新型自动测试夹具移除（AFR）选项。该选项适用于PNA系列网络分析仪，并且具备过去只有安捷伦物理层测试系统（PLTS）软件才提供的误差修正技术，让工程师能用业界最快、最简单的方法，精准执行非同轴组件量测，进而节省可观的时间和金钱。

当今许多组件都没有同轴连接器，因而需使用测试夹具在同轴环境中进行量测。然而，工程师必须去除测试夹具效应，以确保待测物（DUT）的量测准确度。虽然工程师也可以透过EM仿真软件的建模功能或是主机内建的多个校验套件，来评估并去除测试夹具效应，但这些方法既复杂又费时。

适用于PNA的新型AFR选项让工程师能更快速、准确地移除非同轴组件量测结果中，测试夹具所导致的误差。而方便易用的5步骤指引精灵则可快速引导工程师完成必要的操作。此外，工程师可将解嵌入档储存为各种不同的格式，以便将来用于PNA、PLTS和先进设计系统（ADS）软件。

使用AFR选项时，工程师首先必须透过连接测试夹具]的参考平面，在同轴环境中进行校验。接着代表测试夹具的双埠直通连接或半终接(half terminated)之开路及短路标准参数模型将被量测。甚至可进行简易单埠AFR，进行快速的测试夹具解嵌入，如此可在DUT安装于开路校验套件之前，对测试夹具进行实际量测。之后AFR选项还可自动进行特性分析并移除测试夹具的误差。PLTS软件现在也提供这项单埠AFR功能。

台湾安捷伦科技电子量测事业群总经理张志铭表示：「新的AFR选项具有足以媲美机板上TRL校验的准确度，而且更方便易用。对于从未使用过AFR的微波工程师而言，他们无需进行复杂的EM仿真或建构机板校验套件，便可准确地修正测试夹具效应。而已经相当熟悉AFR的信号完整性工程师，则可利用单埠功能，节省大量的量测时间。」