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太克发表新型数字量测方法转换光学抖动分析
光学测试系统新模块为10Gb/s SONET/SDH产品

【CTIMES/SmartAuto 馬耀祖报导】   2002年02月05日 星期二

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Tektronix(太克科技)近日发表突破性的光学抖动量测仪器,可以协助设备制造商加速用于核心量测网络的10 Gb/s SONET/SDH设备的设计与生产速度。新的Tektronix OTS9200 抖动分析模块,是全球首套全数字化光学抖动量测工具,内建于Tektronix专利数字相位分析(Digital Phase Analysis,简称DPA)技术上。Tektronix OTS获奖产品系列的新成员OTS9200,采用DPA技术,在光学抖动测试结果方面,提供了领先业界的最高准确度,可以在OC-3/STM-1(每秒155 Megabits)到OC-192/STM-64(每秒10 Gigabits)的范围内,验证产品与全球通讯标准的兼容程度。

太克OTS9200抖动分析模块
太克OTS9200抖动分析模块

今日许多光学基础架构是以10 Gb/s SONET/SDH 组件为基础的,如交换器、多任务器、询答机(Transponder)等等。在此高速率的数据传输下,数据位彼此间会更为紧密地封包在一起,而各个位间隔之间微小的时间偏移所造成的抖动,则增加传送数据中错误的可能性。国际电讯联盟(ITU)已经开发全球标准,以确保各系统的可靠性与互操作性。遵循国际抖动标准,对于确保全球通讯网络上的数据传输与接收无误,是非常重要的。

Tektronix光学事业部副总裁Rick King表示:「OTS9200的功能反映了Tektronix与各业界领导者的合作关系,以及其对于光学设备团体的业界标准委员会的参与。此产品的开发是要解决新兴标准与技术的量测挑战。OTS9200的数字抖动分析方法,让我们的客户可在以业界最高的可信度,验证产品与建议标准间的兼容性时,缩短测试的时间。」

相较于现有的模拟抖动量测技术,新型的OTS9200抖动分析模块整合了Tektronix专利的DPA技术,以提供领先业界的量测效能。OTS9200在每个SONET/SDH 数据串的边缘加上时间注记,并移除错误来源及现有模拟电路中所找到的锁相环路(PLL)相关参数。

OTS9200 兼具产生抖动与抖动容忍度测试的功能,可在整个指定范围内,提供优异的准确度与分辨率。此外,此项新的数字抖动分析方法,可免除模拟抖动分析法所需的范围变更与PLL的安装设置时间。如此可让设计周期更短,以减少每次测试的时间,并为业界提供最高可信度的光学抖动测试结果,以便用于设计与制造等方面用途。

關鍵字: 光學抖動量測  Tektronix  太克科技  光通訊儀器 
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