账号:
密码:
最新动态
产业快讯
CTIMES/SmartAuto / 產品 /
Tektronix推出Superspeed USB测试解决方案
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍报导】   2009年06月10日 星期三

浏览人次:【3380】

Tektronix宣布推出适用于Superspeed USB(USB 3.0)装置之特性分析、除错和自动化兼容性测试的全新完整工具组。全新的选项USB-TX搭配DPO/DSA70000B示波器,提供可验证USB 3.0发送器装置的单键式解决方案,使工程师能够以更有效率的方式,将其设计产品推出上市。此外,该公司亦推出全套的USB 3.0测试治具,让工程师能够执行更准确的「发送器」、「接收器」和「缆线」测试。

DPO/DSA70000B系列示波器
DPO/DSA70000B系列示波器

选项USB-TX建置于TekExpress平台系统,专用于高速串行数据标准的自动化单键测试。TekExpress模块是以标准组织指定与公布的测试需求和「实作方法」(MOI)为基础。所有测试步骤均采自动化,使客户仅需选择想要的测试,即可获得含有通过/失败与边际分析结果的完整报告。除了全新的USB 3.0产品外,目前亦推出支持SATA和DisplayPort的自动化模块。

测试治具将于2009年夏季正式上市。

關鍵字: USB 3.0  Tektronix 
相关产品
Tektronix全新远端程序呼叫式解决方案从测试仪器迅速传输资料
太克4系列B混合讯号示波器 提供更快分析和资料传输速度
Tektronix推出增强型KickStart Battery Simulator应用程式
Tektronix宣布推出全新TMT4边限测试仪 简化并加速PCIe测试
Tektronix PCI 6.0接收器测试解决方案 满足下一代高效能需求
  相关新闻
» 筑波医电携手新光医院於台湾医疗科技展展示成果
» Tektronix电源仪表新突破 协助客户在日益电气化的世界快速创新
» Anritsu Tech Forum 2024 揭开无线与高速技术的未来视界
» 安立知获得GCF认证 支援LTE和5G下一代eCall测试用例
» 资策会与DEKRA打造数位钥匙信任生态系 开创智慧移动软体安全商机
  相关文章
» 最隹化大量低复杂度PCB测试的生产效率策略
» 确保装置互通性 RedCap全面测试验证势在必行
» ESG趋势展??:引领企业迈向绿色未来
» 高阶晶片异常点无所遁形 C-AFM一针见内鬼
» 高速传输需求??升 PCIe讯号测试不妥协

刊登廣告 新聞信箱 读者信箱 著作權聲明 隱私權聲明 本站介紹

Copyright ©1999-2024 远播信息股份有限公司版权所有 Powered by O3  v3.20.1.HK8C1C20MH2STACUKG
地址:台北数位产业园区(digiBlock Taipei) 103台北市大同区承德路三段287-2号A栋204室
电话 (02)2585-5526 #0 转接至总机 /  E-Mail: [email protected]