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Tektronix推出SAS兼容性测试适用的单键解决方案
 

【CTIMES/SmartAuto 劉筱萍报导】   2010年02月03日 星期三

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Tektronix今(3)日宣布自动兼容性和测试自动化解决方案,现在跨越SATA和SAS(串行连接SCSI)标准,包括由UNH-IOL和SCSI商业协会(STA)所定义广泛的SAS兼容性测试。使用最新的TekExpress软件,储存系统设计人员只需按一个键即能完成这些测试,确保准确和一致的结果,可节省设定时间,不会浪费时间在重复的手动测试。

Tektronix表示,适用于SAS标准的TekExpress软件,提供广泛的物理层发射器和信道量测功能,让资深工程师不需要密切监测测试规格的开发。相反地,所有必要的测试已经在软件中得到充分执行,而且可立即存取。6Gb/s SAS自动兼容性解决方案包括以下测试:

•第一组:频外(OOB)量测

•第二组:Tx展频频率(SSC)需求

•第三组:Tx NRZ数据发讯号要求和交流参数量测

Tektronix提供3Gb/s SAS和6Gb/s SAS兼容性测试所需的高效能示波器和讯号产生器,包括超过10GHz带宽的实时示波器(DSA70000系列数字串行分析仪),及可进行接收器测试和全自动化测试的选配高速串行讯号产生器(AWG7000系列任意波形产生器)。

只需使用TekExpress软件即可设定并执行SAS和SATA兼容性测试,测试仪器便可透过TekExpress自动化平台系统监控所有状况。TekExpress图形用户接口提供一个可供设定和测试的常见直觉式工作流程,一旦设定好测试台,待测装置也连接妥当,用户只要按下「执行」按钮,即可以选定的SAS或SATA测试套件执行量测,自动产生详细的HTML报告和计分卡。

關鍵字: SAS兼容性测试  Tektronix 
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